发明名称 | 电子装置之测试与除错之系统与方法 | ||
摘要 | 一种应用于测试主机之电子装置之测试与除错方法。测试主机与电子装置透过连结埠来连结。本方法包括下列步骤。本方法始于当测试主机处于指令模式。测试主机发出测试指令至电子装置。于电子装置执行测试指令期间,测试主机接收相应于测试指令之一系列回覆讯号。当测试主机侦测出回覆讯号为执行纪录时,测试主机转换至除错模式来监控执行测试指令之电子装置。当测试主机从回覆讯号中撷取出测试结果时,测试主机转换至指令模式来接收测试结果以及发出另一个测试指令或停止测试及除错。 | ||
申请公布号 | TW200722987 | 申请公布日期 | 2007.06.16 |
申请号 | TW095139000 | 申请日期 | 2006.10.23 |
申请人 | 联发科技股份有限公司 | 发明人 | 詹政哲 |
分类号 | G06F11/28(2006.01) | 主分类号 | G06F11/28(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 洪澄文;颜锦顺 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区笃行一路1号 |