发明名称 多相位波形产生器及校正多相位波形产生模块的方法
摘要 本发明披露了一种可校正相位的多相位波形产生器及相关的相位校正方法。该多相位波形产生器包含有一多相位波形产生模块以及一校正模块。该多相位波形产生模块用来接收一输入讯号,并依据一延迟参数改变该输入讯号的相位以产生一输出讯号。该校正模块电连接于该多相位波形产生模块,用来产生对应于一第一、第二预定讯号的第一、第二参考值;依据该第一、第二参考值来决定对应一测试延迟参数的理想相位数值;以及,依据该理想相位数值来校正该多相位波形产生模块。
申请公布号 CN1320532C 申请公布日期 2007.06.06
申请号 CN200410043307.6 申请日期 2004.05.14
申请人 联发科技股份有限公司 发明人 徐哲祥;凃维轩
分类号 G11B7/0045(2006.01) 主分类号 G11B7/0045(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 蒲迈文;黄小临
主权项 权利要求书1.一种多相位波形产生器,其包含有:一多相位波形产生模块,用来接收一输入讯号,并依据一延迟参数改变该输入讯号的相位以产生一输出讯号,具有:一延迟模块,用来延迟该输入讯号以产生多个延迟讯号,以及一选择模块,电连接于该延迟模块,用来依据一测试延迟参数,自该多个延迟讯号中选择出一测试延迟讯号,并依据该测试延迟讯号来产生一测试输出讯号;以及一校正模块,电连接于该多相位波形产生模块,包含:一相位量测模块,电连接于该选择模块以接收该输出讯号,用来产生第一、第二参考值与一实际相位数值;以及一控制模块,电连接于该相位量测模块,用来依据该第一、第二参考值来决定对应该测试延迟参数的理想相位数值,并比较该理想相位数值与该实际相位数值以校正该测试延迟参数所对应的实际延迟时间;其中,在该选择模块以该第一预定讯号作为该输出讯号时,该相位量测模块产生对应该第一预定讯号的第一参考值;在该选择模块以该第二预定讯号作为该输出讯号时,该相位量测模块产生对应该第二预定讯号的第二参考值;在该选择模块以经延迟处理的一预定讯号作为该输出讯号时,该相位量测模块产生对应该测试输出讯号的实际相位数值,该实际相位数值为未经校正的相位数值,且该理想相位数值落在第一、第二参考值确定的直线上,并且在控制模块中,改变该测试延迟参数所对应的实际延迟时间,直到对应该测试输出讯号的实际相位数值最接近该理想相位数值为止。
地址 台湾省新竹县新竹科学工业园