发明名称 |
待测器件和测试头之间的通用测试接口 |
摘要 |
本发明涉及待测器件和测试头之间的通用测试接口。为了在容纳待测器件(DUT)的DUT板和连接到测试头的电缆之间形成模块化接口,提供一个具有连接器阵列的板垫块。每个电缆连接到一个相应的连接器,并且DUT板包含一个对应的连接点阵列,连接点的数量等于或小于板垫块上的阵列中的连接器的数量。以此方式,可以使用一个公共板垫块来把电缆连接到容纳不同类型DUT的DUT板,因为板垫块上的连接点的位置是已知的并且保持恒定。该接口允许测试头和DUT上器件之间的用于超过50MHz频率的高速和高保真度连接。 |
申请公布号 |
CN1975440A |
申请公布日期 |
2007.06.06 |
申请号 |
CN200610142255.7 |
申请日期 |
2002.03.13 |
申请人 |
爱德旺太斯特株式会社 |
发明人 |
詹姆士·沃伦·弗雷姆 |
分类号 |
G01R1/073(2006.01);G01R1/067(2006.01);G01R31/319(2006.01) |
主分类号 |
G01R1/073(2006.01) |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 |
代理人 |
李辉 |
主权项 |
1.一种执行存储器件的高并行性测试的接口,该接口包括:第一板,保持其中一个存储器件并具有一个连接到该存储器件的插座;和一个插塞,连接到相应电缆和该插座以产生一个通信通路,其中所述第一板和所述插塞的组合允许存储器件的高并行性测试。 |
地址 |
日本东京 |