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发明名称
制作包含前侧形变超晶格层及后侧应力层之半导体元件的方法
摘要
制作半导体元件之方法,其包含在一半导体底材之后表面上形成一应力层,以及在相邻于半导体底材之前表面上形成一形变超晶格层。特定而言,应力层可包含不同于半导体底材的材料。此外,形变超格层可包含复数个堆叠层群组。形变超晶格层之每一层群组可包含定义了一基底半导体部份的复数个堆叠基底半导体单层,以及限制在相邻于基底半导体部份之晶体晶格内的至少一非半导体单层。
申请公布号
TW200721480
申请公布日期
2007.06.01
申请号
TW095135613
申请日期
2006.09.26
申请人
R. J. 米尔斯公司
发明人
卡里帕南韦斐克络
分类号
H01L29/15(2006.01)
主分类号
H01L29/15(2006.01)
代理机构
代理人
陈慧玲
主权项
地址
美国
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