发明名称 自动非线性相位响应校正及功率测量装置之补偿
摘要 相位延迟补偿扫测(phase delay compensation sweep)可用于确定对所测量得之电流的正确相位延迟补偿,以在一比流器(CT;current transformer)之电流值的一作业范围上,将一测量得之视在功率(apparent power)大体上匹配于一所期望之视在功率。在具有多个频率之应用中,亦可使用一频率扫测来确定每一测量得的电流之正确相位延迟补偿。在相位延迟补偿扫测校正期间,可将用于每一CT电流值之相位延迟补偿储存于一相位延迟补偿查询表中,且在操作功率测量期间自该查询表予以读出。在一相位延迟补偿扫测校正期间,可将用于每一CT电流值之相位延迟补偿及彼电流值之每一频率储存于一相位延迟补偿查询表中,且在操作功率测量期间自该查询表予以读出。
申请公布号 TW200720670 申请公布日期 2007.06.01
申请号 TW095124936 申请日期 2006.07.07
申请人 微晶片科技公司 发明人 克雷格L 金;文森 夸克皮克斯;罗杰 贝瑞
分类号 G01R25/00(2006.01);G01R23/165(2006.01) 主分类号 G01R25/00(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国