| 发明名称 | 超导故障－限流元件及其制造工艺 | ||
| 摘要 | 以低成本制备具有高共享电场的超导故障－限流元件。一种超导故障－限流元件，包括：绝缘体衬底；在该绝缘体衬底上形成的超导薄膜3；以及在该超导薄膜3上形成的合金层4，所述合金层具有比纯金属的室温电阻率高两倍或以上的室温电阻率，其中，当通过过电流，使该超导薄膜3进入正常的导电状态时，流过该超导薄膜3的过电流被仅仅传送到合金层4。 | ||
| 申请公布号 | CN1973381A | 申请公布日期 | 2007.05.30 |
| 申请号 | CN200580020931.7 | 申请日期 | 2005.06.17 |
| 申请人 | 独立行政法人产业技术综合研究所 | 发明人 | 山崎裕文;古濑充穗 |
| 分类号 | H01L39/16(2006.01) | 主分类号 | H01L39/16(2006.01) |
| 代理机构 | 北京泛诚知识产权代理有限公司 | 代理人 | 杨本良;文琦 |
| 主权项 | 1.一种超导故障-限流元件，包括：绝缘体衬底；在该绝缘体衬底上形成的超导薄膜；以及在该超导薄膜上形成的合金层，所述合金层具有比纯金属的室温电阻率高两倍或以上的室温电阻率，其中当通过过电流，该超导薄膜进入正常的导电状态时，流过该超导薄膜的过电流仅仅被传送到合金层。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||