发明名称 应力分析系统
摘要 一种应力分析系统,其系适于接收来自于一网际网路之一使用者所输入的资料,并将分析结果经由网际网路传递至使用者。此应力分析系统包括一使用者介面、一储存模组、一资料库、一应力分析模组与一传档程式,其中使用者介面具有多种工作表单,而使用者适于依据这些工作表单输入资料。此外,储存模组适于储存使用者所输入的资料,而资料库系储存多种材料参数。另外,应力分析模组系依据使用者所输入的资料与资料库所储存的材料参数而产生一分析结果,而传档程式适于将分析结果经由网际网路传递至使用者。
申请公布号 TWI281620 申请公布日期 2007.05.21
申请号 TW093137724 申请日期 2004.12.07
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 黄东鸿;李长;赖逸少
分类号 G06F17/40(2006.01) 主分类号 G06F17/40(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 1.一种应力分析系统,适于接收来自于一网际网路 之一使用者所输入的资料,并将分析结果经由该网 际网路传递至该使用者,该应力分析系统包括: 一使用者介面,具有多数种工作表单,而该使用者 适于依据该些工作表单输入资料,其中该些工作表 单的内容包括封装型态、封装规格、引脚或焊球 间矩、水平及垂直方向之焊球数或引脚数、水平 及垂直方向之散热球数或引脚数、总球数、晶粒 尺寸、焊垫尺寸、基板层数或PCB层数; 一储存模组,储存该使用者所输入的资料; 一资料库,储存多数种材料参数; 一应力分析模组,依据该使用者所输入的资料与该 资料库所储存之该些材料参数而产生一分析结果, 其中该分析结果包括应变、翘曲变形、产生晶粒 碎裂的可能性、产生介面分层的可能性、在温度 循环情况下产生裂缝所需的时间与产生破坏所需 的时间、在循环弯曲情况下产生裂缝所需的时间 与产生破坏所需的时间、在循环掉落情况下产生 裂缝所需的时间与产生破坏所需的时间、在循环 震动情况下产生裂缝所需的时间与产生破坏所需 的时间;以及 一传档程式,将该分析结果经由该网际网路传递至 该使用者,其中该传档程式系应用档案传输协定( FTP)、超文件传输协定(HTTP)或简单邮件传输协定( SMPT)。 图式简单说明: 图1绘示依照本发明较佳实施例之应力分析系统的 架构图。 图2绘示依照本发明较佳实施例之应力分析系统的 流程图。 图3A至图3F绘示依照本发明较佳实施例之工作表面 的示意图。 图4绘示依照本发明较佳实施例之工作表面的代码 说明。 图5A与图5B绘示依照本发明较佳实施例之分析结果 的示意图。
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路26号
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