半导体晶圆检查装置

摘要

【物品用途】本创作的物品是一种半导体晶圆检查装置，主要是作为收容并检查晶圆所用的装置。【创作特点】本创作乃如各图所示，具备，用来收容半导体晶圆进行检查之筐体状的探测器、和连结在该探测器之用来供给半导体晶圆的给料室；在探测器的前面，是在上下方向重叠配置有，接受用来进行该探测器内换气的风扇过滤元件、和为了用于检查半导体晶圆的探测卡(图未示)，且将该探测卡安装在探测器内的特定场所的探测卡安装元件；本创作乃将复杂的构成经过详细的规划，形成此一简洁具科技感的造型。