发明名称 TEST CIRCUIT FOR PERI AREA
摘要
申请公布号 KR20070048390(A) 申请公布日期 2007.05.09
申请号 KR20050105425 申请日期 2005.11.04
申请人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC. 发明人 LEE, KWANG SU
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
地址