发明名称 电子元器件管到管高速测试分选系统
摘要 本实用新型公开了一种电子元器件管到管高速测试分选系统,属于电子元器件测试分选技术领域,包括从上而下依次设置的旋转式上料机构,同轴凸轮组隔料、夹紧和测试机构,步进式分料机构和层叠式料仓机构。本实用新型电子元器件管到管高速测试分选系统不仅测试分选效率高,且结构紧凑、便于调节、造价适中。
申请公布号 CN2897460Y 申请公布日期 2007.05.09
申请号 CN200620102926.2 申请日期 2006.04.21
申请人 何纪法 发明人 何纪法
分类号 B07C5/344(2006.01) 主分类号 B07C5/344(2006.01)
代理机构 绍兴市越兴专利事务所 代理人 蒋卫东
主权项 1.一种电子元器件管到管高速测试分选系统,其特征在于包括从上而下依次设置的旋转式上料机构,同轴凸轮组隔料、夹紧和测试机构,步进式分料机构和层叠式料仓机构。
地址 312000浙江省绍兴市越城区劳动路学士街52号