发明名称 SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS AND METHOD FOR TESTING THE SAME
摘要
申请公布号 KR100718042(B1) 申请公布日期 2007.05.08
申请号 KR20060031617 申请日期 2006.04.06
申请人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC. 发明人 CHUN, JUN HYUN
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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