发明名称 薄膜覆晶封装之多层电路卷带结构
摘要 一种薄膜覆晶封装之多层电路卷带结构,主要包含有一第一介电层、复数个形成于一第一介电层上之第一层引脚、一覆盖该些第一层引脚之第二介电层、复数个形成于该第二介电层上之第二层引脚、以及一覆盖该些第二层引脚防焊层之防焊层。其中,该些第一层引脚与该些第二层引脚各具有复数个对应之第一凸块接合端与第二凸块接合端,其系形成于一覆晶接合区内且显露于该防焊层之外,以提升薄膜覆晶封装产品之解析度或性能。较佳地,第一凸块接合端与第二凸块接合端系为条状且均具有突出于防焊层之高度,以降低防焊层之成本。
申请公布号 TW200737477 申请公布日期 2007.10.01
申请号 TW095111120 申请日期 2006.03.30
申请人 南茂科技股份有限公司;百慕达南茂科技股份有限公司 CHIPMOS TECHNOLOGIES (BERMUDA) LTD. 百慕达 发明人 刘孟学;王豪勋
分类号 H01L23/498(2006.01) 主分类号 H01L23/498(2006.01)
代理机构 代理人 许庆祥
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区研发一路1号