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发明名称
光阻之剥离方法
摘要
本发明之目的系提供一种可提高存在于基板表面的光阻之剥离性能之光阻剥离方法,及具有优越的经离子植入的光阻的剥离性能之光阻剥离方法。该光阻剥离方法之特征为依序包含以氧化剂改质光阻之改质制程及以含有胺化合物和伸烷基二醇类的剥离液剥离光阻之剥离制程。另外,氧化剂较佳为含有过氧化氢之溶液。
申请公布号
TW200818307
申请公布日期
2008.04.16
申请号
TW096130651
申请日期
2007.08.20
申请人
富士软片股份有限公司
发明人
斋江俊之
分类号
H01L21/306(2006.01);H01L21/027(2006.01);G03F7/42(2006.01)
主分类号
H01L21/306(2006.01)
代理机构
代理人
何金涂;何秋远
主权项
地址
日本
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