发明名称 一种光学测量方法
摘要 本发明涉及一种光学测量方法,先根据测量数据点邻域内的点估算曲面在这一测点处的法矢,并对法矢方向进行调整以使各测点处的法矢都指向曲面的同一侧,计算各个测点的曲率;根据每个测点的曲率来识别出可匹配点对集合,计算将每一个点对的法矢方向映射为一致的三维空间变换,采用几何哈希的方法找出使得最多数量的点对法矢一致的变换,运用该变换将所测得的散乱数据点作初次配准;以初次配准后两模型的位置作为新的初始位置,用统计出的匹配点对集合作为初始的匹配点对集合,用最近点迭代法实现散乱数据点的精确配准。本发明不需人工贴制标签点,也不需人为添加任何几何和拓扑信息,仅利用测量数据本身的几何特性来获得被测物体的整体数据。
申请公布号 CN1952592A 申请公布日期 2007.04.25
申请号 CN200610118333.X 申请日期 2006.11.14
申请人 同济大学 发明人 朱延娟
分类号 G01B11/00(2006.01);G01B11/24(2006.01);G06T7/00(2006.01) 主分类号 G01B11/00(2006.01)
代理机构 上海光华专利事务所 代理人 余明伟;钱春新
主权项 1、一种光学测量方法,其特征在于:包括以下步骤:1)首先根据测量数据点邻域内的点估算曲面在这一测点处的法矢,并对法矢方向进行调整以使各测点处的法矢都指向曲面的同一侧,然后计算各个测点的曲率;2)根据每个测点的曲率来识别出可匹配点对集合,计算将每一个点对的法矢方向映射为一致的三维空间变换,采用几何哈希的方法找出使得最多数量的点对法矢一致的变换,运用该变换将所测得的散乱数据点作初次配准;3)以初次配准后两模型的位置作为新的初始位置,用步骤2中统计出的匹配点对集合作为初始的匹配点对集合,用最近点迭代法实现散乱数据点的精确配准。
地址 200092上海市杨浦区四平路1239号