| 发明名称 | 一种多通道数据测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种多通道数据测试方法，包括以下处理过程：根据被测数字器件的性能参数，将计算机并口或串口线一一对应地连接到需要进行输入控制的相关数字器件的受控管脚；将每个通道所有可能的数字状态下计算机并口需要发送的二进制数字信息收集，形成控制计算机并口输出信息的数据文件；输入步骤2形成的数据文件，利用计算机并口或串口，运行相关计算机送数软件进行数字器件每一状态的送数设置；并行记录各通道各状态的待测响应参数数值。本发明测试方法克服了常规抽样测试数据不全的缺陷，采用多通道所有可能的数字状态同时利用计算机并口完成设置，数据记录随时可并行完成。 | ||
| 申请公布号 | CN1312868C | 申请公布日期 | 2007.04.25 |
| 申请号 | CN200310113517.3 | 申请日期 | 2003.11.13 |
| 申请人 | 中兴通讯股份有限公司 | 发明人 | 谢瑞华;李勇强;田晓光 |
| 分类号 | H04B17/00(2006.01);G01R31/28(2006.01);H01L21/66(2006.01) | 主分类号 | H04B17/00(2006.01) |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 1.一种多通道数据测试方法，其特征在于，所述方法包括一下处理步骤：1)根据被测数字器件的性能参数，将计算机并口或串口线一一对应地连接到需要进行输入控制的相关数字器件的受控管脚；2)将每个通道所有可能的数字状态下计算机并口需要发送的二进制数字信息收集，形成控制计算机并口输出信息的数据文件；3)输入步骤2)形成的数据文件，利用计算机并口或串口，运行相关计算机送数软件进行数字器件每一状态的送数设置；4)并行记录各通道各状态的待测响应参数数值。 | ||
| 地址 | 518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部 | ||