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发明名称
STRIP VAPOR SYSTEM FOR PHOTO RESIST OF SEMICONDUCTOR WAFER AND METHOD THEREOF
摘要
申请公布号
KR100713707(B1)
申请公布日期
2007.04.25
申请号
KR20060040306
申请日期
2006.05.04
申请人
KOREA INSTITUTE OF MACHINERY & MATERIALS;DAWONSYS CO., LTD.
发明人
PARK, HYUNG JIN;KIM, YOUNG DO;LIM, JIN SUB;CHA, MIN SUK;SONG, YOUNG HOON
分类号
H01L21/3065
主分类号
H01L21/3065
代理机构
代理人
主权项
地址
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