发明名称 电子讯号测试治具
摘要 本发明提供一种电子讯号测试治具,提供对一电路板上之复数个接触垫以及一球栅阵列封装元件之复数个球形接脚进行电讯连接,以进行该球栅阵列封装元件之测试,该电子讯号测试治具包括有:一连接介面以及至少一导电胶体。该连接介面具有复数个导接元件,每一导接元件一一与复数个接触垫相对应,且每一导接元件之一端与接触垫对位电讯连接。该导电胶体具有一第一侧面以及一第二侧面,该第一侧面贴靠该连接介面,且与该导接元件之另一端相连接,该第二侧面与该复数个球形接脚贴靠连接,该导电胶体具有复数个导电线,将该第一侧面以及该第二侧面进行电讯连接。
申请公布号 TWI279543 申请公布日期 2007.04.21
申请号 TW095119225 申请日期 2006.05.30
申请人 陈淑华 发明人 陈淑华
分类号 G01R1/04(2006.01) 主分类号 G01R1/04(2006.01)
代理机构 代理人 吴修闸 台北市中山区松江路51号5楼之1
主权项 1.一种电子讯号测测试治具,其系提供对一电路板 上之复数个接触垫以及一球栅阵列封装元件之复 数个球形接脚进行电讯连接,以进行该球栅阵列封 装元件之测试,该电子讯号测试治具包括有: 一连接介面,具有复数个导接元件,每一导接元件 一一与复数个接触垫相对应,且每一导接元件之一 端与接触垫对位电讯连接;以及 至少一导电胶体,其系具有一第一侧面以及一第二 侧面,该第一侧面系贴靠该连接介面,且与该导接 元件之另一端相连接,该第二侧面系与该复数个球 形接脚贴靠连接,该导电胶体具有复数个导电线, 将该第一侧面以及该第二侧面进行电讯连接。 2.如申请专利范围第1项所述之电子讯号测试治具, 其中该导电线系为镀有银、金材质所制成。 3.如申请专利范围第1项所述之电子讯号测试治具, 其中该导电线与该第一侧面系呈一预定角度连接 。 4.如申请专利范围第1项所述之电子讯号测试治具, 其中该导接元件以球形接脚与该接触垫电讯连接 。 5.如申请专利范围第1项所述之电子讯号测试治具, 其中该导接元件以表面黏着技术与该接触垫电讯 连接。 6.如申请专利范围第1项所述之电子讯号测试治具, 其中该导接元件系由锡或铜所制成。 7.如申请专利范围第1项所述之电子讯号测试治具, 其中该电子讯号测试治具更包括有一承载座,该承 载座系提供容置该导电胶体。 8.如申请专利范围第7项所述之电子讯号测试治具, 其中该电子讯号测试治具更包括有一锁固部,该锁 固部其系通过该承载座以及该连接介面而连接于 该电路板上。 9.如申请专利范围第1项所述之电子讯号测试治具, 其中该电子讯号测试治具更包括有一定位座,该定 位座系提供容置该球栅阵列封装元件,且使该球栅 阵列封装元件之该复数个球形接脚与该导电胶体 相接触。 10.一种电子讯号测试治具,其系提供对一电路板上 之复数个接触垫以及一球栅阵列封装元件之复数 个球形接脚进行电讯连接,以进行该球栅阵列封装 元件之测试,该电子讯号测试治具包括有: 一连接介面,具有复数个导接元件,每一导接元件 一一与复数个接触垫相对应,且每一导接元件之一 端与接触垫对位电讯连接,该连接介面一顶面侧更 具有复数个转接埠,该转接埠系凸出于该顶面侧一 高度;以及 一导电部,其系具有一第一侧面以及一第二侧面, 该第一侧面系贴靠该复数个转接埠,该第二侧面系 与该复数个球形接脚贴靠连接,以该导电部将该第 一侧面以及该第二侧面进行电讯导通。 11.如申请专利范围第10项所述之电子讯号测试治 具,其中该导电部系为至少一导电胶体,该导电胶 体具有复数个导电线,将该第一侧面以及该第二侧 面进行电讯连接。 12.如申请专利范围第11项所述之电子讯号测试治 具,其中该导电线系为镀有银、金材质所制成。 13.如申请专利范围第11项所述之电子讯号测试治 具,其中该导电线与该第一侧面系呈一预定角度连 接。 14.如申请专利范围第10项所述之电子讯号测试治 具,其中该导接元件以球形接脚与该接触垫电讯连 接。 15.如申请专利范围第10项所述之电子讯号测试治 具,其中该导接元件以表面黏着技术术与该接触垫 电讯连接。 16.如申请专利范围第10项所述之电子讯号测试治 具,其中该导接元件系由锡或铜所制成。 图式简单说明: 第一图其系为使用传统BGA测试插座组来连接球栅 阵列封装元件之球形接脚与电路板之导孔之结构 示意图。 第二图其系为使用另一传统BGA测试插座组来连接 球栅阵列封装元件之球形接脚与电路板之导孔之 结构示意图。 第三图其系为本发明电子讯号测试治具较佳实施 例立体结构示意图。 第四图其系为本发明电子讯号测试治具连接球栅 阵列封装元件与电路板较佳实施例立体结构示意 图。 第五图其系为本发明电子讯号测试治具连接球栅 阵列封装元件与电路板较佳实施例侧视剖面结构 示意图。
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