发明名称 Verfahren zur Strahlungskorrektur eines CT-Systems
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Streustrahlungskorrektur eines CT-Systems (1) mit mindestens zwei winkelversetzt zueinander betriebenen Fokus/Detektor-Systemen (FDSA, FDSB), wobei an mindestens einem, dem untersuchten Objekt (7) zumindest in einem Teilbereich, ähnlichen Phantom (P) für mindestens eines der Fokus/Detektor-Systeme (FDSA, FDSB), die auftretende Streustrahlintensität im Detektor (3) eines Fokus/Detektor-Systems (FDSA) während des Betriebs des mindestens einen Fokus (F¶B¶) mindestens eines anderen Fokus/Detektor-Systems (FDSB) ermittelt und dessen räumliche Verteilung für mehrere Rotationswinkel der Fokus/Detektor-Systeme (FDSA, FDSB) abgespeichert wird, beim Scan des Objektes von den gemessenen Intensitäten des ersten Fokus/Detektor-Systems (FDSA) die mit einem ähnlichen Phantom ermittelten Streustrahlintensitäten, die von dem mindestens einen anderen Fokus/Detektor-System (FDSB) stammen, unter Berücksichtigung der räumlichen Orientierung der Fokus/Detektor-Systeme (FDSA, FDSB) und des jeweils betrachteten Strahls abgezogen werden, und mit den so korrigierten Intensitätswerten (I') die Absorptionswerte (a¶korr¶ = -ln(I'/I¶0¶)) berechnet und damit CT-Aufnahmen oder CT-Volumendaten rekonstruiert werden.
申请公布号 DE102005048397(A1) 申请公布日期 2007.04.12
申请号 DE200510048397 申请日期 2005.10.10
申请人 SIEMENS AG 发明人 BRUDER, HERBERT;PETERSILKA, MARTIN;RAUPACH, RAINER;STIERSTORFER, KARL
分类号 G01N23/06;G03B42/02 主分类号 G01N23/06
代理机构 代理人
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