发明名称 用于同时检测Cu<SUP>2+</SUP>、Pb<SUP>2+</SUP>、Cd<SUP>2+</SUP>的阵列式薄膜传感器及其制备方法
摘要 本发明涉及用于同时检测Cu<SUP>2+</SUP>、Pb<SUP>2+</SUP>、Cd<SUP>2+</SUP>的阵列式薄膜传感器及基制备方法,以p型或n型Si片作基底,在基底上依次为SiO<SUB>2</SUB>层,对Cu<SUP>2+</SUP>、Pb<SUP>2+</SUP>、Cd<SUP>2+</SUP>敏感的三种薄膜;该薄膜传感器是通过激光脉冲沉积技术在SiO<SUB>2</SUB>表面上制备三种敏感薄膜,采用激光沉积技术把三个敏感材料分别制备在SiO<SUB>2</SUB>表面上,最后形成三种阵列式薄膜传感器。它对溶液中的Cu<SUP>2+</SUP>、Pb<SUP>2+</SUP>、Cd<SUP>2+</SUP>具有选择性,能检测出Cu<SUP>2+</SUP>、Pb<SUP>2+</SUP>、Cd<SUP>2+</SUP>的含量。本发明可在江河湖泊、生物医学领域(如血液、体液)、工业废水、中药、蔬菜、水果、茶叶等领域中对Cu<SUP>2+</SUP>、Pb<SUP>2+</SUP>、Cd<SUP>2+</SUP>同时进行定性和定量检测。
申请公布号 CN1945303A 申请公布日期 2007.04.11
申请号 CN200610017279.X 申请日期 2006.10.24
申请人 东北电力大学 发明人 门洪;王建国
分类号 G01N27/406(2006.01);H01L49/02(2006.01) 主分类号 G01N27/406(2006.01)
代理机构 吉林市达利专利事务所 代理人 张瑜声
主权项 1、一种用于同时检测Cu2+、Pb2+、Cd2+的阵列式薄膜传感器,以p型或n型Si片作基底,在基底上为SiO2层,SiO2层上面为对Cu2+、pb2+、Cd2+敏感的三种薄膜。
地址 132012吉林省吉林市船营区长春路169号