发明名称 光学数据存储系统和光学记录和/或读取的方法
摘要 本发明描述了一种用于使用具有波长λ的辐射光束进行记录和/或读取的光学数据存储系统。辐射光束被会聚到光学数据存储介质的数据存储层上。所述介质具有对于会聚辐射光束是透明的覆盖层。所述覆盖层的厚度h小于5μm。厚度变化基本上小于焦距50nm的覆盖层摒除了对物镜进行动态聚焦控制的需要,否则,除了间隙伺服之外,还需要动态聚焦控制。另外还描述了一种使用这种光学数据存储系统进行光学记录的方法,通过所述方法实现了静态聚焦控制和球面象差校正以适应介质与介质的变化。例如可通过优化来自导入轨迹的已知信号的调制深度来实现静态聚焦控制。
申请公布号 CN1942951A 申请公布日期 2007.04.04
申请号 CN200580011836.0 申请日期 2005.04.15
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 M·B·范德马克;F·兹普
分类号 G11B7/24(2006.01);G11B7/135(2006.01) 主分类号 G11B7/24(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 龚海军;刘杰
主权项 1.一种用于使用会聚到光学数据存储介质的数据存储层上的具有波长λ的辐射光束进行记录和/或读取的光学数据存储系统,所述系统包括:-具有对于会聚辐射光束是透明的覆盖层的介质,所述覆盖层的厚度h小于5μm,-光学头,包括具有数值孔径NA的物镜,所述物镜包括一个固态浸没透镜,所述固态浸没透镜适于呈现在距离所述介质的最外表面小于λ/10的自由工作距离处并被布置在所述光学数据存储介质的覆盖层侧,并且在记录/读取期间会聚辐射光束通过倏逝波耦合而从所述固态浸没透镜耦合到光学数据存储介质的覆盖层中,其特征在于整个介质上的覆盖层的厚度变化Δh小于50nm。
地址 荷兰艾恩德霍芬
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