发明名称 避免浸润式微影的水纹缺陷
摘要 一种用于浸润式微影(Immersion Lithography)之光阻材料,此光阻材料包含聚合物、光酸产生剂以及抑制剂。聚合物与酸反应后,能溶解于硷性溶液中。光酸产生剂吸收辐射后,能分解形成酸。抑制剂能中和酸且流动性低。因此,此光阻材料能避免浸润式微影中的水纹缺陷。
申请公布号 TW200712779 申请公布日期 2007.04.01
申请号 TW095135424 申请日期 2006.09.25
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 张庆裕
分类号 G03F7/039(2006.01);G03F7/004(2006.01);H01L21/027(2006.01) 主分类号 G03F7/039(2006.01)
代理机构 代理人 蔡坤财
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号