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发明名称
避免浸润式微影的水纹缺陷
摘要
一种用于浸润式微影(Immersion Lithography)之光阻材料,此光阻材料包含聚合物、光酸产生剂以及抑制剂。聚合物与酸反应后,能溶解于硷性溶液中。光酸产生剂吸收辐射后,能分解形成酸。抑制剂能中和酸且流动性低。因此,此光阻材料能避免浸润式微影中的水纹缺陷。
申请公布号
TW200712779
申请公布日期
2007.04.01
申请号
TW095135424
申请日期
2006.09.25
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
发明人
张庆裕
分类号
G03F7/039(2006.01);G03F7/004(2006.01);H01L21/027(2006.01)
主分类号
G03F7/039(2006.01)
代理机构
代理人
蔡坤财
主权项
地址
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号
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