发明名称 金属错合物及有机电场发光元件
摘要 本发明为一种金属错合物及使用该金属错合物之发光元件,该金属错合物之特征为具有呈现源自三重激发态之发光之金属错合物构造,以及由唑衍生之1价基。
申请公布号 TWI277617 申请公布日期 2007.04.01
申请号 TW092106272 申请日期 2003.03.21
申请人 住友化学工业股份有限公司 发明人 小林谕;土居秀二;三上智司
分类号 C07F15/00(2006.01);C08G61/12(2006.01);C09K11/08(2006.01);H05B33/14(2006.01) 主分类号 C07F15/00(2006.01)
代理机构 代理人 洪武雄 台北市中正区博爱路35号9楼;陈昭诚 台北市中正区博爱路35号9楼
主权项 1.一种金属错合物,其特征为具有呈现源自三重激 发态之发光之金属错合物构造,以及有如下述式(1) 及(2)所示之1价基 (式中之A表单键或共轭2价基;R1及R2各自独立,表示 卤素原子、烷基、烷氧基、烷硫基、烷胺基、烷 基矽烷基、芳基、芳氧基、芳硫基、芳胺基、芳 基矽烷基、芳基烷基、芳基烷氧基、芳基烷硫基 、芳基烷胺基、芳基烷基矽烷基、醯基、醯氧基 、亚胺基、醯胺基、芳基烯基、芳基炔基、氰基 、或1价杂环基;R3为烷基、芳基、芳基烷基、芳基 烯基、芳基炔基、或1价杂环基;a为0至3之整数;b为 0至4之整数;a为2以上之场合,其复数之R1可相同或 不同;b为2以上之场合,其复数之R2可相同或不同) (式中之D表单键或共轭2价基;R4及R5各自独立,表示 卤素原子、烷基、烷氧基、烷硫基、烷胺基、烷 基矽烷基、芳基、芳氧基、芳硫基、芳胺基、芳 基矽烷基、芳基烷基、芳基烷氧基、芳基烷硫基 、芳基烷胺基、芳基烷基矽烷基、醯基、醯氧基 、亚胺基、醯胺基、芳基烯基、芳基炔基、氰基 、或1价杂环基;c、d各自独立,表示0至4整数;c为2以 上之场合,其复数之R4可相同或不同;d为2以上之场 合,其复数之R5可相同或不同)。 2.一种错合物,其特征为具有来自三重激发态之发 光且如下述式(3)所示, (式中之M1表原子序50以上之原子中,可因自旋轨道 之互相作用而在本错合物中发生单态与三重态间 之态间交替之金属;L1表下列式(4)或式(5)所示之配 位基;L2表经由1个以上之氮原子、氧原子、碳原子 、硫原子及/或磷原子与M键结之配位基,及卤素原 子或氢原子;1表1至3之整数;m表0至3之整数;1为2以 上之场合,复数之L1可相同或不同;m为2以上之场合, 复数之L2可相同或不同;l+m表2至6之整数) (式中之Ar1表经1个以上之氮原子、氧原子、碳原 子、硫原子及/或磷原子与M1键结且与j个A键结之 配位基之残基;j表1至3之整数;A、R1至R3及a及b各与 上述式(1)中者相同) (式中之Ar2表经1个以上之氮原子、氧原子、碳原 子、硫原子及/或磷原子与M1键结且与k个D键结之 配位基之残基:k表1至3之整数:D、R4、R5、c及d各与 上述式(2)中者相同)。 3.如申请专利范围第2项之错合物,其中,L1为上述式 (4)所示之配位基者。 4.如申请专利范围第2项之错合物,其中,L1为上述式 (5)所示之配位基,且其D为共轭2价基者。 5.如申请专利范围第2项之错合物,其中,L1为经至少 1个氮原子及/或至少1个碳原子与M1键结者。 6.如申请专利范围第5项之错合物,其中,L1为多齿配 位基者。 7.如申请专利范围第2项之错合物,其中,Ar1及Ar2为 下述式(6)或(7)所示之1价2齿配位基者 (式中R6至R13各自独立,表示氢原子、卤素原子、烷 基、烷氧基、烷硫基、烷胺基、烷基矽烷基、芳 基、芳氧基、芳硫基、芳胺基、芳基矽烷基、芳 基烷基、芳基烷氧基、芳基烷硫基、芳基烷胺基 、芳基烷基矽烷基、醯基、醯氧基、亚胺基、醯 胺基、芳基烯基、芳基炔基、氰基、1价杂环基、 或上述式(1)或式(2)中所示之基;R6至R13中至少一者 为上述式(1)或式(2)中所示之基) (式中之E1表氧原子或硫原子;R14至R19各自独立,表 示氢原子、卤素原子、烷基、烷氧基、烷硫基、 烷胺基、烷基矽烷基、芳基、芳氧基、芳硫基、 芳胺基、芳基矽烷基、芳基烷基、芳基烷氧基、 芳基烷硫基、芳基烷胺基、芳基烷基矽烷基、醯 基、醯氧基、亚胺基、醯胺基、芳基烯基、芳基 快基、氰基、1价杂环基、或上述式(1)或式(2)中所 示之基;R14至R19中至少一者为上述式(1)或式(2)中所 示之基)。 8.如申请专利范围第2项之错合物,其中,M1为铱原子 、白金原子、金原子或铕原子者。 9.一种有机电场发光元件,其特征为在阳极及阴极 所构成之电极间,含由申请专利范围第2至8项中任 一项之错合物所形成之层者。 10.一种高分子化合物,其系一种高分子发光体,而 在其主链或分枝链具有呈现源自三重激发态之发 光之金属错合物构造,且具有上述式(1)或(2)所示之 1价基者。 11.如申请专利范围第10项之高分子化合物,系具有 下列式(8)、(9)及(10)所示之反复单位,且具有可见 光范围之磷光者 (式中之M2表原子序50以上之原子中,可因自旋轨道 之相互作用而在本错合物中发生单态与三重态间 之态间交换之金属;L3表下列式(12)或(13)所示之配 位基;L4表经由1个以上之氮原子、氧原子、碳原子 、硫原子及/或磷原子与M2键结之配位基、卤素原 子或氢原子;e表1至3之整数;f表0至3之整数;L5表经 由1个以上之氮原子、氧原子、碳原子、硫原子及 /或磷原子与M2键结之配位基,且经由二键与二个反 复单位共价键结;e为2以上之场合,复数之L3可相同 或不同;f为2以上之场合,复数之L4可相同或不同;e+f 为1至5之整数) (式中之Ar4表经由1个以上之氮原子、氧原子、碳 原子、硫原子及/或磷原子与M2键结且与o个A键结 之配位基之残基;o表1至3整数;A、R1至R3、a及b各与 上述式(1)中者相同) (式中之Ar5表经由1个以上之氮原子、氧原子、碳 原子、硫原子及/或磷原子与M2键结,且与p个D共价 键结之配位基之残基;p表1至3整数;D、R4、R5、c及d 各与上述式(2)中者相同) (式中之M2、L3及L4各与上述式(8)中者相同;L6及L7各 自独立,表示经由1个以上之氮原子、氧原子、碳 原子、硫原子及/或磷原子与M2键结之配位基,且L6 及L7各经由一键与相接之一反复单位形成共价键;g 表1至3之整数,h表0至3之整数;g为2以上时,复数之L3 可相同或不同;h为2以上时,复数之L4可相同或不同; g+h为1至4之整数) (式中之M2、L3、L4、e及f各与上述式(8)中者相同;Ar3 表3价之芳族基或3价之杂环基;L8表经由1个以上氮 原子、氧原子、碳原子、硫原子及/或磷原子与M2 键结之配位基,且L8经由一键与Ar3共价键结者)。 12.如申请专利范围第10项之高分子化合物,其中,高 分子末端具有下述式(11)所示构造,且可发出可见 光范围之磷光者 (式中之M2、L3、L4、e及f各与上述式(8)中者相同;L9 表经由1个以上之氮原子、氧原子、碳原子、硫原 子及/或磷原子与M2键结之配位基,且L9经一键与高 分子末端形成共价键结)。 13.如申请专利范围第10项之高分子化合物,其中,该 高分子化合物具有呈现源自三重激发态之发光之 金属错合物构造,且在该金属错合物构造外之反复 构造单位上,另有上述式(1)或式(2)所示之1价基者 。 14.如申请专利范围第10项之高分子化合物,其中,主 链为共轭高分子者。 15.如申请专利范围第14项之高分子化合物,其中,另 含有下述式(14)所示之反复单位者 (式中之Ar6表伸芳基或2价杂环基;R20及R21各自独立, 表示氢原子、烷基、芳基、芳基烷基、芳基烯基 、芳基炔基、1价杂环基或氰基;Ar6上之取代基、R 20及R21中之至少一者为上述式(1)或式(2)所示之基;n 表0或1)。 16.如申请专利范围第10项之高分子化合物,其中,该 呈现源自三重激发态之发光之金属错合物部份之 配位基中,至少一个系经由氮原子及/或碳原子与 金属键结。 17.如申请专利范围第10项之高分子化合物,其中,该 呈现源自三重激发态之发光之金属错合物部份之 配位基中,至少一个为多齿配位基。 18.如申请专利范围第10项之高分子化合物,其中,该 呈现源自三重激发态之发光之金属错合物部份之 配位基中,至少一个为下列式(15)或式(16)所示之配 位基 (式中之R22至R29各自独立,表示氢原子、卤素原子 、烷基、烷氧基、烷硫基、烷胺基、烷基矽烷基 、芳基、芳氧基、芳硫基、芳胺基、芳基矽烷基 、芳基烷基、芳基烷氧基、芳基烷硫基、芳基烷 胺基、芳基烷基矽烷基、醯基、醯氧基、亚胺基 、醯胺基、芳基烯基、芳基炔基、氰基、及1价杂 环基;且R22至R29中之至少一者为与主链或侧链键结 之键); (式中之E2为氧原子或硫原子;R30至R35各自独立,表 示氢原子、卤素原子、烷基、烷氧基、烷硫基、 烷胺基、烷基矽烷基、芳基、芳氧基、芳硫基、 芳胺基、芳基矽烷基、芳基烷基、芳基烷氧基、 芳基烷硫基、芳基烷胺基、芳基烷基矽烷基、醯 基、醯氧基、亚胺基、醯胺基、芳基烯基、芳基 炔基、氰基或1价杂环基;R30至R35中之至少一者为 与主链或侧链键结之键)。 19.如申请专利范围第10至18项中任一项之高分子化 合物,其中,该呈现源自三重激发态之发光之金属 错合物部份之中心金属为铱原子、白金原子、金 原子或铕原子者。 20.一种有机电场发光元件,其特征为在阳极及阴极 所构成之电极间具有含申请专利范围第10至19项中 任一项之高分子化合物之层。
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