发明名称 | 金属材料表面性能的电化学阻抗谱综合分析方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种金属材料表面性能的电化学阻抗谱综合分析方法,首先采用mCRR传输线模型拟合在满足因果性、稳定性和线性条件下测量的电化学阻抗谱,其中m为正整数,C和R分别表示纯电容和纯电阻;然后根据公式f<SUP>*</SUP>=1/(2πC<SUB>i</SUB>R<SUB>i</SUB>)分别求出各C<SUB>i</SUB>和R<SUB>i</SUB>并联分支的特征频率f<SUP>*</SUP>,并作出在不同的系列研究条件下离散参数C<SUB>i</SUB>和R<SUB>i</SUB>随特征频率变化分布的对数图以及R<SUB>o</SUB>随研究条件变化的图;最后,根据图的特征确定金属材料表面性能的差异。本发明利用了电化学阻抗谱的灵敏性和信息的丰富性,以及mCRR传输线模型的客观性、通用性等,从而客观、灵敏地鉴别了不同条件下金属材料表面性质之间的差异。 | ||
申请公布号 | CN1936559A | 申请公布日期 | 2007.03.28 |
申请号 | CN200610032327.2 | 申请日期 | 2006.09.28 |
申请人 | 韶关学院 | 发明人 | 孙秋霞 |
分类号 | G01N27/26(2006.01) | 主分类号 | G01N27/26(2006.01) |
代理机构 | 韶关市雷门专利事务所 | 代理人 | 周胜明 |
主权项 | 1、一种金属材料表面性能的电化学阻抗谱综合分析方法,其特征是:首先采用mCRR传输线模型拟合在满足因果性、稳定性和线性条件下测量的电化学阻抗谱,其中m为正整数,C和R分别表示纯电容和纯电阻;然后根据公式f*=1/(2πCiRi)分别求出各Ci和Ri并联分支的特征频率f*,并作出在不同的系列研究条件下离散参数Ci和Ri随特征频率变化分布的对数图以及Ro随研究条件变化的图;最后,根据图的特征确定金属材料表面性能的差异。 | ||
地址 | 512023广东省韶关市东郊大唐路9公里韶关学院 |