| 发明名称 | 读取角度复用凹坑的方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于从光记录介质(8)上读取角度旋转凹坑(13、14)的方法和设备(1)，并且涉及一种使用这种方法或设备来从光记录介质进行读取的设备。根据本发明，一种检测光记录介质(8)上的角度旋转凹坑(13、14)的旋转角的方法，包括步骤：利用光束(9)照射角度旋转凹坑(13、14)；利用检测器(11)的至少两个检测区域，来确定由角度旋转凹坑(13、14)反射的光束(9)的至少两个检测器信号(A+B、C+D)；以及计算所述至少两个检测器信号(A+B、C+D)的差值信号(PS)；其中，依据角度旋转凹坑(13、14)相对于标记中心的位置，来确定所述至少两个检测器信号(A+B、C+D)和差值信号(PS)。 | ||
| 申请公布号 | CN1932984A | 申请公布日期 | 2007.03.21 |
| 申请号 | CN200610126225.7 | 申请日期 | 2006.08.25 |
| 申请人 | 汤姆森许可贸易公司 | 发明人 | 约阿希姆·尼特尔 |
| 分类号 | G11B7/00(2006.01);G11B7/005(2006.01);G11B7/13(2006.01) | 主分类号 | G11B7/00(2006.01) |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 罗松梅 |
| 主权项 | 1.一种用于检测光记录介质(8)上的角度旋转凹坑(13、14)的旋转角的方法，包括步骤：-利用光束(9)照射角度旋转凹坑(13、14)；和-利用检测器(11)的至少两个检测器区域，来确定由角度旋转凹坑(13、14)反射的光束(9)的至少两个检测器信号(A+B、C+D)；其中-计算所述至少两个检测器信号(A+B、C+D)的差值信号(PS)；以及-依据角度旋转凹坑(13、14)相对于标记中心的位置，来确定所述至少两个检测器信号(A+B、C+D)和差值信号(PS)。 | ||
| 地址 | 法国布洛涅 | ||