| 主权项 |
1.一种制造含共聚酯之聚合薄膜的方法,该共聚酯 具有酸组份及二醇组份,该酸组份包含二羧酸及含 有连接于芳族二羧酸之芳核上之磺酸酯基的磺基 单体;该方法包含下列步骤: (i)熔融挤出该共聚酯的薄层; (ii)在至少一个方向伸展该挤出物; (iii)经由下列方法热固定该薄膜:在第一加热室中 升高该伸展薄膜的温度至温度T1以使(TM-T1)在由5至 30℃的范围,然后在第二加热室中升高该薄膜的温 度至温度T2以使(TM-T2)在由0至10℃的范围; 其中TM是该聚合薄膜的最高熔融温度; 其中T2大于T1;且 其中薄膜之横断面在第一和第二加热室的时间分 别定义为t1和t2,并使t1对t2的比是至少2:1。 2.如申请专利范围第1项之方法,其中t1对t2的比是 小于65:1。 3.如申请专利范围第1或2项之方法,其中t1对t2的比 是在8:1至50:1的范围中。 4.如申请专利范围第1或2项之方法,其中在第二加 热室的温度上升系以线性或实质上线性的方式达 成。 5.如申请专利范围第4项之方法,其中在第一加热室 的温度上升系以实质上渐进的方式达成。 6.如申请专利范围第1或2项之方法,其中第一加热 室是以空气对流加热,而第二加热室是以红外线辐 射加热。 7.如申请专利范围第1或2项之方法,其尚包含在热 固定步骤后:提高薄膜温度至高温,然后移除薄膜 的两边缘部份的步骤;该高温是可切除易碎薄膜而 不破坏膜幅的温度。 8.如申请专利范围第7项之方法,其中该高温是在由 100至200℃的范围内。 9.如申请专利范围第1或2项之方法,其中该二醇是 一种脂族二醇。 10.如申请专利范围第1或2项之方法,其中该二醇是 乙二醇。 11.如申请专利范围第1或2项之方法,其中该二羧酸 是一种芳族二羧酸。 12.如申请专利范围第1或2项之方法,其中该二羧酸 是对苯二甲酸。 13.如申请专利范围第1或2项之方法,其中该磺基单 体的量以共聚酯的重量计为2至10莫耳百分比。 14.如申请专利范围第1或2项之方法,其中该磺基单 体的量以共聚酯的重量计为2至6莫耳百分比。 15.如申请专利范围第1或2项之方法,其中该磺酸酯 基是一种磺酸盐。 16.如申请专利范围第1或2项之方法,其中该磺酸酯 基是一种第一族或第二族金属的磺酸盐。 17.如申请专利范围第1或2项之方法,其中该磺基单 体的芳族二羧酸是间苯二甲酸。 18.如申请专利范围第1或2项之方法,其中该磺基单 体是5-磺基钠间苯二甲酸或4-磺基钠间苯二甲酸。 19.如申请专利范围第1或2项之方法,其中该薄膜如 本文所测量,具有在机器方向由2 kgf/mm2至15 kgf/mm2, 且在横断面方向由2.5 kgf/mm2至17 kgf/mm2范围之破坏 的极限抗拉强度(UTD)。 20.如申请专利范围第1或2项之方法,其中该薄膜如 本文所测量,具有在机器方向由1.0公斤至3.0公斤, 且在横断面方向由1.3公斤至2.8公斤范围之撕裂引 发値。 21.一种含共聚酯的聚合薄膜,该共聚酯具有酸组份 及二醇组份,该酸组份包含二羧酸及含有连接于芳 族二羧酸之芳核上之磺酸酯基的磺基单体;其中该 薄膜如本文所测量,具有在机器方向由2 kgf/mm2至15 kgf/mm2,且在横断面方向由2.5 kgf/mm2至17 kgf/mm2范围 之破坏的极限抗拉强度(UTD)。 22.一种含共聚酯的聚合薄膜,该共聚酯具有酸组份 及二醇组份,该酸组份包含二羧酸及含有连接于芳 族二羧酸之芳核上之磺酸酯基的磺基单体;其可由 包含下列步骤的方法制得: (i)熔融挤出该共聚酯的薄层; (ii)在至少一个方向伸展该挤出物; (iii)经由下列方法热固定该薄膜:在第一加热室中 升高该伸展薄膜的温度至温度T1以使(TM-T1)在由5至 30℃的范围,然后在第二加热室中升高该薄膜的温 度至温度T2以使(TM-T2)在由0至10℃的范围; 其中TM是该聚合薄膜的最高熔融温度; 其中T2大于T1;且 其中薄膜之横断面在第一和第二加热室的时间分 别定义为t1和t2,并使t1对t2的比是至少2:1。 23.如申请专利范围第22项之薄膜,其中该方法系如 申请专利范围第1或2项所定义者。 24.如申请专利范围第22或23项之薄膜,其中该薄膜 如本文所测量,具有在机器方向由约2 kgf/mm2至约15 kgf/mm2且在横断面方向由约2.5 kgf/mm2至约17 kgf/mm2范 围之破坏的极限抗拉强度(UTD)。 25.如申请专利范围第21至23项任一项之聚合薄膜, 其中该共聚酯系如申请专利范围第9至18项任一项 所定义者。 26.如申请专利范围第21至23项任一项之聚合薄膜, 其如本文所测量,具有在机器方向由1.0公斤至3.0公 斤,且在横断面方向由1.3公斤至2.8公斤范围之撕裂 引发値。 27.一种安全标签,其包含如申请专利范围第21至23 项任一项所陈述的聚合薄膜,且尚包含黏着层。 28.一种根据申请专利范围第21至23项任一项之聚合 薄膜作为防仿冒或安全标签之用途。 图式简单说明: 薄膜开始撕裂的该点极易由伸张的轨迹来确认,而 一种确认此点的方法系参考图1和图2(其分别代表 标准聚对苯二甲酸乙二酯(PET)薄膜和根据本发明 之易碎薄膜的伸张轨迹)说明如下。参考图示,当 施力于测试样品时,应力快速升高到样品不再具弹 性的一点(降伏点),即图示的点(a)。当继续施力于 样品,应力/应变曲线降低到伸长正常开始的一点( 图1中的点(b)、图2中的点(f))。对图1的标准PET样品 而言,伸长一直发生直至样品达到其断点(图1中的 点(c))为止,当测试结束,UTS(极限抗拉强度;点(d))和 ETB(断裂伸长率;点(e))的値系根据ASTM D882-88计算。 对本发明的易碎薄膜(图2)而言,薄膜在点(f)(标准 PET薄膜开始伸长的点)开始撕裂。当继续施力于样 品,应力/应变曲线快速地降低至零应力。在图2中, 点(g)和点(h)分别代表UTD(破坏之极限抗拉强度)和 ETD(破坏伸长率)。 |
