发明名称 |
单片单晶硅微机械加工的电容式压力传感器 |
摘要 |
一种微机械加工的电容式压力传感器,其结构主要包括:单晶硅衬底;处于单晶硅衬底表面,起电容器弹性电极作用的外延单晶硅层;处于单晶硅衬底边缘表面的外延单晶硅框架;覆盖外延单晶硅框架表面的介质薄膜;由外延单晶硅框架支持,起电容器固定电极作用的外延单晶硅层;由外延单晶硅框架所围绕,处于两外延单晶硅层之间的空洞夹层。传感器的制造采用多孔硅选择性形成,多孔硅上外延生长,以及多孔硅选择性腐蚀等技术。由于器件为全单晶硅结构,器件性能可以得到很大改进,制造成本也能大幅度降低。 |
申请公布号 |
CN1920508A |
申请公布日期 |
2007.02.28 |
申请号 |
CN200510092880.0 |
申请日期 |
2005.08.25 |
申请人 |
李韫言 |
发明人 |
涂相征;李韫言 |
分类号 |
G01L9/12(2006.01);G01L1/14(2006.01) |
主分类号 |
G01L9/12(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.一种微机械加工的电容式压力传感器,其结构特征包括:单晶硅衬底;处于单晶硅衬底表面,厚1至8微米,宽100至1000微米,起电容器弹性电极作用的矩形外延单晶硅层;处于外延单晶硅层边缘表面,厚2至4微米的外延单晶硅框架;覆盖外延单晶硅框架表面的介质薄膜;由外延单晶硅框架支持,厚10至20微米,开有若干直径3至6微米通孔,起电容器固定电极作用的外延单晶硅层;处于弹性电极和固定电极之间,由外延单晶硅框架所围绕的空洞夹层;处于单晶硅衬底内部,弹性电极外延单晶硅层下部,厚10至20微米,宽100至1000微米,形状与单晶硅层相似的空腔;以及向下贯穿空腔底部硅层,连接空腔内部与单晶硅衬底外部环境的通孔。 |
地址 |
100083北京市海淀区志新村23号楼1810室 |