通过数据压缩处理以测试存储器的方法

摘要

本发明公开了一种通过数据压缩处理以测试存储器的方法，是利用压缩算法对存储器进行测试，首先将存储器划分至少三块：起始存储器块、缓冲存储器块以及目标存储器块，接着将样本数据存放于起始存储器块，利用压缩算法，将样本数据进行压缩动作，压缩过程中的缓冲数据储存于缓冲存储器块，然后将压缩完成的样本数据存放于目标存储器块，最后将压缩后的样本数据进行解压缩，并且对比解压缩后的样本数据与压缩前的样本数据是否一致，以判断存储器是否有误。采用本发明，利用压缩算法，对存储器中的数据进行压缩和解压缩测试，并验证压缩前与解压缩后的数据是否一致，以对存储器施加较大的压力来测试存储器是否有误。

主权项

1.一种通过数据压缩处理以测试存储器的方法，利用一压缩算法，对一存储器进行施压测试，其特征在于，该方法包含下列步骤：将该存储器划分至少一起始存储器块、一缓冲存储器块以及一目标存储器块；将一样本数据存放于该起始存储器块；通过该压缩算法，将该样本数据进行压缩动作，在该缓冲存储器块中储存压缩过程中的该样本数据的中间过渡数据；将压缩完成后的该样本数据存放于该目标存储器块；将存放于该目标存储器块的压缩后的该样本数据进行解压缩的动作；以及对比解压缩后的该样本数据与压缩前的该样本数据。