| 发明名称 | 用于芯片内系统的设计的分级内置自测试 | ||
| 摘要 | 用于验证系统功能的分级内置自测试的方法和装置。结果，提供一种用于进行完整的芯片内系统测试的有效的分级内置自测试的方法，以保证电路的可靠性和芯片内系统设计的性能。附加的优点是，芯片内系统应用的开发成本得到降低。 | ||
| 申请公布号 | CN1302388C | 申请公布日期 | 2007.02.28 |
| 申请号 | CN02810397.1 | 申请日期 | 2002.05.15 |
| 申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | H·H·陈;L·L·－C·许;L·－K·王 |
| 分类号 | G06F11/27(2006.01);G01R31/3187(2006.01) | 主分类号 | G06F11/27(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 吴立明;陈霁 |
| 主权项 | 1.用于为芯片内系统提供分级内置自测试的装置，所述装置包含：至少一个本地BIST电路，所述本地BIST电路与多个宏相关联；中央BIST控制器，其中所述中央BIST控制器控制至少一个本地BIST电路，并且所述中央BIST控制器包含分级测试逻辑，所述逻辑用于确定宏内和宏间的故障机制；和至少一个设置在所述中央BIST控制器与所述至少一个本地BIST电路之间的通信介质。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||