发明名称 Probe card
摘要 A probe card includes a base that supports a probe pin and an electromagnet. When the probe pin contacts a magnetic-sensor terminal in on a chip on a wafer, magnetic force is applied to a magnetic-field sensing section in the chips.
申请公布号 US7183763(B1) 申请公布日期 2007.02.27
申请号 US20060374023 申请日期 2006.03.14
申请人 FUJITSU LIMITED 发明人 MURATA HISANORI
分类号 G01R33/12 主分类号 G01R33/12
代理机构 代理人
主权项
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