| 摘要 |
<p>Ein Mikroskop zur Totalinternen-Reflexions-Mikroskopie, mit mindestens einer Lichtquelle (1) für die evaneszente Beleuchtung, gegebenenfalls einer Verstelleinheit (2) für das Beleuchtungslicht (6) und mit einem Objektiv (4), wobei sowohl Beleuchtungslicht (6) als auch Detektionslicht (7) über den Beleuchtungsstrahlengang (3) durch das Objektiv (4) geführt werden und wobei an der Grenzfläche zu einer Probe (5) oder Probenabdeckung vorzugsweise totalreflektiertes Beleuchtungslicht (Reflexionslicht) (8) in den Beleuchtungsstrahlengang (3) zurückkehrt, ist dadurch gekennzeichnet, dass im Beleuchtungsstrahlengang (3) Mittel zum zumindest teilweisen Auskoppeln des zurückkehrenden Reflexionslichts (8) aus dem Beleuchtungsstrahlengang (3) und Mittel zum Detektieren des ausgekoppelten Reflexionslichts (8) vorgesehen sind und dass aus dem Strahlengang (9) des ausgekoppelten Reflexionslichts (8) quantifizierbare und/oder qualifizierbare Parameter der evaneszenten Beleuchtung und/oder des in der Probe (5) entstehenden evaneszenten Feldes ableitbar sind. Ein entsprechendes Verfahren dient zur Ab eitung quantifizierbarer und/oder qualifizierbarer Parameter der evaneszenten Beleuchtung und/oder des in der Probe (5) entstehenden evaneszenten Feldes.</p> |
