| 发明名称 | 磁记录介质的检测装置及其检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种磁记录介质的检测装置及其检测方法。依据本发明所提供的磁记录介质的检测装置，包含：向所述磁记录介质发出光的外差激光器；使从所述磁记录介质反射的光按特定方向偏振的偏振部；用于接收偏振光的收光部；从接受到的光检测克尔磁信号的检测器；用于显示所检测到的所述克尔磁信号的显示部。据此，提供一种可以正确、简单地检测磁记录介质的克尔磁信号的光学设备检测装置及其检测方法。 | ||
| 申请公布号 | CN1917040A | 申请公布日期 | 2007.02.21 |
| 申请号 | CN200510097429.8 | 申请日期 | 2005.12.28 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 普特波夫·维蒂莫;赵成训;李锡原;权宁健;金大锡;金洸秀;李文九 |
| 分类号 | G11B5/00(2006.01) | 主分类号 | G11B5/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郭鸿禧;邱玲 |
| 主权项 | 1、一种磁记录介质的检测装置，其特征在于包含：向所述磁记录介质发出光的外差激光器；使从所述磁记录介质反射的光按特定方向偏振的偏振部；用于接收偏振光的收光部；从所接受到的光检测克尔磁信号的检测器；用于显示所检测到的所述克尔磁信号的显示部。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||