发明名称 半导体元件的制造方法
摘要 一种半导体元件的制造方法,此方法先于基底上形成多个隔离结构以定义出有源区。然后,于有源区的基底中形成多个元件结构,这些元件结构的顶部高于基底表面。接着,于元件结构的表面形成绝缘层。之后,于基底上依序形成导体层与材料层,覆盖绝缘层与裸露的基底,其中此材料层具有流动性。继之,进行第一蚀刻步骤,移除材料层与部分的导体层。然后,于基底上形成绝缘材料层。之后,对绝缘材料层进行第二蚀刻工艺,以形成一对导体间隙壁。
申请公布号 CN1917172A 申请公布日期 2007.02.21
申请号 CN200510092040.4 申请日期 2005.08.16
申请人 力晶半导体股份有限公司 发明人 简财源;赖亮全
分类号 H01L21/82(2006.01);H01L21/8239(2006.01) 主分类号 H01L21/82(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波;侯宇
主权项 1、一种半导体元件的制造方法,包括:提供一基底,该基底至少包括:多个隔离结构配置于该基底上,其中该些隔离结构定义出一有源区,并且该些隔离结构的顶部高于该基底表面;多个元件结构位于该有源区的该基底中,其中该些元件结构的顶面高于该些隔离结构的顶面;以及一绝缘层覆盖该些元件结构;于该基底上形成一第一导体层,覆盖该绝缘层与该基底;于该第一导体层上形成一材料层,其中该材料层具有流动性;进行一第一蚀刻步骤,移除该材料层与部分该第一导体层;于该基底上形成一绝缘材料层,覆盖保留下来的该第一导体层;以及对该绝缘材料层进行一第二蚀刻步骤,以形成一导体间隙壁。
地址 中国台湾新竹市