| 发明名称 | 基于功能化电极上具体结合事件的电读数来分析分子和纳米材料的方法和基于CMOS的装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种包括具有探针分子的功能化电极的装置，该装置能通过功能化电极的极化改变来电检测探针分子和靶分子之间的分子结合事件。该装置也包括不具有探针分子的非功能化电极，并且该装置能通过功能化电极和非功能化电极之间的极化改变来电检测探针分子和靶分子之间的分子结合事件。 | ||
| 申请公布号 | CN1916630A | 申请公布日期 | 2007.02.21 |
| 申请号 | CN200610121538.3 | 申请日期 | 2006.08.18 |
| 申请人 | 英特尔公司 | 发明人 | V·杜宾;F·格斯淳;J·吕克尔 |
| 分类号 | G01N33/53(2006.01);G01N27/00(2006.01);C12Q1/00(2006.01) | 主分类号 | G01N33/53(2006.01) |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 陈斌 |
| 主权项 | 1.一种包含具有探针分子的功能化电极的装置，其中，所述装置能通过功能化电极的极化改变来电检测探针分子和靶分子之间的分子结合事件。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||