| 发明名称 | 用于X射线装置的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于确定图像区域(1)中作为对象(4)中的物质(2；3)的均匀性度量的特征参数H的方法，以及一种在采用特征参数H作为附加分割准则的图像中分割出物质(2；3)的方法，其中针对X射线的两个不同能量E1，E2采集至少两幅X射线图像(5，6)，在图像区域(1)中由衰减值Di(E1)，Di(E2)的统计分布确定特征参数H，其中i＝1，...N，从而可以简单方式避免分割时的错误分类(7)。 | ||
| 申请公布号 | CN1912604A | 申请公布日期 | 2007.02.14 |
| 申请号 | CN200610110121.7 | 申请日期 | 2006.08.08 |
| 申请人 | 西门子公司 | 发明人 | 迈克尔·格拉斯拉克;卡尔·斯蒂尔斯托弗 |
| 分类号 | G01N23/083(2006.01);G06T7/00(2006.01);H05G1/00(2006.01) | 主分类号 | G01N23/083(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 邵亚丽;李晓舒 |
| 主权项 | 1.一种用于为X射线装置在图像区域(1)中确定作为对象(4)中物质的均匀性度量的特征参数H的方法，其中，a)针对X射线的至少两种不同能量E1、E2采集两幅具有衰减值Di(E1)、Di(E2)，i＝1，…N的X射线图像(5，6)，这些衰减值表示X射线穿过对象(4)的衰减，b)在该图像区域(1)中，从针对X射线的第一能量E1采集的X射线图像(5)的衰减值Di(E1)和针对X射线的第二能量E2采集的X射线图像(6)的衰减值Di(E2)中为对应的图像元素Di形成测量值对(D1(E1)，D1(E2))，…，(DN(E1)，DN(E2))，c)通过分析这些测量值对(D1(E1)，D1(E2))，…，(DN(E1)，DN(E2))在该图像区域(1)中的统计分布来确定作为该对象(4)的物质的均匀性度量的特征参数H。 | ||
| 地址 | 德国慕尼黑 | ||