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发明名称 ENHANCED LOOPBACK TESTING OF SERIAL DEVICES
摘要
申请公布号 EP1366417(B1) 申请公布日期 2007.02.14
申请号 EP20010987274 申请日期 2001.12.03
申请人 TERADYNE, INC. 发明人 PANIS, MICHAEL, C.;ROBBINS, BRADFORD, B.
分类号 G01R31/28;G06F11/26;G01R31/30;G01R31/317;G01R31/319;G06F11/22;H04L1/24;H04L25/02 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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