发明名称 走线分段检测方法及系统
摘要 一种走线分段检测方法及系统,系应用于印刷电路板(Printed Circuit Board;PCB)布线中,用以检测于同一层面具有复数同类信号配对走线之长度差,该系统系由一设定模组、一检测模组、一判别模组以及一处理模组所构成,而该检测方法系先行设定一长度差容许值,选定欲检测之层面,并定义该配对走线之起始端以及终止端,然后沿着走线检测出一测试点,再测量该配对走线从起始端至测试点之长度,并计算配对走线之间之长度差,接着判别该长度差是否超出长度差容许值范围,若是,则标示该等已检测过之走线,以供后续修改,待修改完毕则进入下一个测试点之检测,若否,则继续检测下一个测试点,此时若该测试点为终止端时,则结束该检测过程,因此,应用本发明可达到节省时间、提高工作效率以及检测精度之功效,同时亦可令该配对走线达到同步通讯之效果。
申请公布号 TWI273260 申请公布日期 2007.02.11
申请号 TW094140533 申请日期 2005.11.18
申请人 英业达股份有限公司 发明人 赵贤钊;范文纲
分类号 G01R31/28(2006.01) 主分类号 G01R31/28(2006.01)
代理机构 代理人 陈昭诚 台北市中正区博爱路35号9楼
主权项 1.一种走线分段检测方法,系应用于印刷电路板( Printed Circuit Board;PCB)布线中,用以检测于同一层面 具有复数同类信号配对走线之长度差,该方法至少 包括以下步骤: (1)设定一长度差容许値,选定该印刷电路板中欲检 测之层面,并分别定义该配对走线之两端作为后续 检测之起始端及终止端; (2)自该起始端开始并朝该终止端方向,沿着该配对 走线检测出一测试点; (3)测量该配对走线从起始端至该测试点之长度,并 计算配对走线之间的长度差; (4)判别该长度差是否超出长度差容许値范围,若是 ,则进至步骤(5),若否,则进至步骤(6); (5)标示该等已检测过之走线,以供后续修改,待修 改完毕则进至步骤(6); (6)检测下一个测试点;以及 (7)该测试点是否为该配对走线之终止端,若否,则 返回至步骤(3),若是,则结束该检测过程。 2.如申请专利范围第1项之走线分段检测方法,其中 ,该测试点系包括该配对走线斜率发生改变处以及 终止端。 3.如申请专利范围第1项之走线分段检测方法,其中 ,该等已检测过之走线之标示系以高亮(highlight)方 式以及着色(color)方式其中一者进行标示。 4.如申请专利范围第1项之走线分段检测方法,其中 ,后续修改系包括对超出长度差容许値范围之走线 中相对较短之走线以绕线方式进行补足,以确保其 与相对较长之走线之长度差不大于该长度差容许 値。 5.一种走线分段检测系统,系应用于印刷电路板( Printed Circuit Board;PCB)布线中,用以检测于同一层面 具有复数同类信号配对走线之长度差,该系统至少 包括: 一设定模组,系用以设定一长度差容许値,选定该 印刷电路板中欲检测之层面,并定义该配对走线之 两端作为后续检测之起始端及终止端; 一检测模组,系用以自该起始端开始并朝该终止端 方向,沿着该配对走线逐步检测各测试点,藉此测 量该配对走线从起始端至该测试点之长度,并计算 配对走线之间的长度差; 一判别模组,系用以将该检测模组计算得到之长度 差与该设定模组已设定之长度差容许値进行比对 并判别该长度差是否超出长度差容许値范围,以发 出一判别讯号;以及 一处理模组,系用以根据该判别模组发出之判别讯 号作出相应之处理,当该长度差超出长度差容许値 范围时,则标示该等已检测过之配对走线,以供后 续修改,待修改完毕则进入下一个测试点之检测, 当该长度差不超出长度差容许値范围且该检测模 组检测到终止端时,则结束该检测过程。 6.如申请专利范围第5项之走线分段检测系统,其中 ,该测试点系为该配对走线斜率发生改变处以及终 止端。 7.如申请专利范围第5项之走线分段检测系统,其中 ,该等已检测过之走线之标示系以高亮(highlight)方 式以及着色(color)方式其中一者进行标示。 8.如申请专利范围第5项之走线分段检测系统,其中 ,后续修改系包括对超出长度差容许値范围之走线 中相对短之走线以绕线方式进行补足,以确保其与 相对较长之走线之长度差不大于该长度差容许値 。 图式简单说明: 第1图为一方块示意图,其系显示本发明之走线分 段检测系统之基本架构示意图; 第2图为一走线示意图,其系显示本发明之走线分 段检测系统之配对走线示意图;以及 第3图为一流程图,系用以显示本发明之走线分段 检测方法之操作流程。
地址 台北市士林区后港街66号