发明名称 半导体元件的制造方法
摘要 一种半导体元件的制造方法,包含:提供一基底,其中该基底具有一核心区与一周边线路区,其中该核心区具有一第一闸极于该基底上,及该周边线路区具有一第二闸极于该基底上;形成一第一绝缘层,以覆盖该第一闸极、该第二闸极及该基底,其中该第一绝缘层系包含氮化矽;形成一第二绝缘层,以覆盖该第一绝缘层,其中该第二绝缘层系包含氧化矽;蚀刻部分之该第二绝缘层,以在该第一闸极及该第二闸极侧壁之第一绝缘层表面形成一间隔物,并暴露出位在该第一闸极、该第二闸极上方、及该基底表面之该第一绝缘层;形成一光阻层,以覆盖该周边线路区,露出该核心区;移除位在该核心区内之该间隔物;移除该光阻层;以及蚀刻该第一绝缘层,以移除位在该基底表面之第一绝缘层,留下剩余之第一绝缘层以覆盖该第一闸极侧壁。
申请公布号 TW200703436 申请公布日期 2007.01.16
申请号 TW094123538 申请日期 2005.07.12
申请人 茂德科技股份有限公司 发明人 锺朝喜;胡竹君;王智正
分类号 H01L21/02(2006.01) 主分类号 H01L21/02(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路19号3楼