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发明名称
半导体装置及其形成方法
摘要
本发明揭示一种半导体装置及其形成方法。上述半导体装置包含:一闸介电层于一基底中的一通道区上;一闸极于上述闸介电层上;一闸极介电层置于上述闸极的侧缘;以及实质上与上述闸极介电层的侧缘对齐的一源/汲极区。其中上述源/汲极区具有:第一掺杂区与上述闸极部分重叠;第二掺杂区,其与上述通道区的距离大于该第一掺杂区与上述通道区的距离;以及第三掺杂区,其与上述通道区的距离大于上述第二掺杂区与上述通道区的距离。上述源/汲极区较好为具有与上述闸极间隔物有一既定间隔的磊晶区。
申请公布号
TW200703562
申请公布日期
2007.01.16
申请号
TW094141101
申请日期
2005.11.23
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
发明人
郑水明
分类号
H01L21/8234(2006.01)
主分类号
H01L21/8234(2006.01)
代理机构
代理人
洪澄文;颜锦顺
主权项
地址
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号
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