发明名称 可修复的导线结构
摘要 一种可修复的导线结构,包括至少两个外部导电部分及一设置于外部导电部分间之内部导电部分。外部导电部分和内部导电部分系分别藉由二个沟槽分隔,并且对应于每一沟槽,至少有一连接部分,用以连接邻接于沟槽的外部导电部分及内部导电部分。
申请公布号 TWI270729 申请公布日期 2007.01.11
申请号 TW093120335 申请日期 2004.07.07
申请人 友达光电股份有限公司 发明人 李俊右;郑炳钦
分类号 G02F1/1345(2006.01) 主分类号 G02F1/1345(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文 台北市大安区信义路4段279号3楼;颜锦顺 台北市大安区信义路4段279号3楼
主权项 1.一种可修复的导线结构,包括: 至少两个外部导电部分; 一内部导电部分,设置于该些外部导电部分间,其 中该些外部导电部分和该内部导电部分系分别藉 由二个沟槽分隔;及 至少一连接部分,对应于每一沟槽,用以连接邻接 于沟槽之对应的的外部导电部分及该内部导电部 分。 2.如申请专利范围第1项所述之可修复的导线结构, 其中该连接部分之厚度较该些外部导电部分及该 内部导电部分薄。 3.如申请专利范围第1项所述之可修复的导线结构, 其中该可修复的导线结构系设置于一液晶显示面 板上。 4.如申请专利范围第1项所述之可修复的导线结构, 其中该些外部导电部分、该内部导电部分以及该 连接部分系由导电材料所组成。 5.如申请专利范围第4项所述之可修复的导线结构, 其中该导电材料系择自下列元素或化合物所组成 之族群:钽、钨、铬、铝、铟锡氧化物(ITO)和上述 之组合。 6.如申请专利范围第1项所述之可修复的导线结构, 其中该内部导电部分的宽度较该些外部导电部分 的宽度为宽。 7.如申请专利范围第1项所述之可修复的导线结构, 其中该连接部分系设置于该可修复的导线之末端 。 8.如申请专利范围第1项所述之可修复的导线结构, 其中该连接部分系设置于该可修复的导线之中间 部位。 9.一种可修复的导线结构,包括: 一第一导电层,包括至少两个外部导电部分和一设 置于该些外部导电部分间之内部导电部分,其中该 些外部导电部分及该外部导电部分系分别由两个 沟槽分隔,该第一导电层还包括至少一连接部分, 对应于每一沟槽,用以连接相邻的外部导电部分以 及该内部导电部分; 一介电层,设置于该第一导电层上,其中该介电层 不覆盖该些沟槽及该些连接部分; 一第二导电层,设置于该介电层上,其中该第二导 电层不覆盖该些沟槽及该些连接部分;及 一第三导电层,设置于该第二导电层上,其中该第 三导电层不覆盖该些沟槽。 10.如申请专利范围第9项所述之可修复的导线结构 ,其中该可修复的导线结构系设置于一液晶显示面 板上。 11.如申请专利范围第9项所述之可修复的导线结构 ,其中该第三导电层系由透明导电材料所形成。 12.如申请专利范围第9项所述之可修复的导线结构 ,其中该些内部导电部分的宽度较该外部导电部分 的宽度为宽。 13.如申请专利范围第9项所述之可修复的导线结构 ,其中该介电层系为氮化矽。 14.如申请专利范围第9项所述之可修复的导线结构 ,其中该第一导电层及该第二导电层系由导电材料 所形成。 15.如申请专利范围第14项所述之可修复的导线结 构,其中该导电材料系择自下列元素或化合物所组 成之族群:钽、钨、铬、铝、铟锡氧化物(ITO)和上 述之组合。 16.如申请专利范围第10项所述之可修复的导线结 构,其中该第一导电层系和该液晶显示面板的一薄 膜电晶体之一闸电极层同时形成。 17.如申请专利范围第10项所述之可修复的导线结 构,其中该介电层系和该薄膜电晶体之一闸极介电 层同时形成。 18.如申请专利范围第10项所述之可修复的导线结 构,其中该第二导电层系和该薄膜电晶体之源极/ 汲极电极同时形成。 19.如申请专利范围第10项所述之可修复的导线结 构,其中该第三导电层系和该液晶显示面板之画素 电极同时形成。 20.如申请专利范围第11项所述之可修复的导线结 构,其中该透明导电材料系为ITO。 图式简单说明: 第1图系显示习知导线包含一颗粒于两导线间之平 面图。 第2图系显示习知导线于接合过程中产生对位误差 之平面图。 第3图系显示本发明第一实施例之导线结构之平面 图。 第4图系显示本发明第一实施例包含一颗粒位于两 导线间之平面图。 第5图系显示本发明第一实施例于接合过程中产生 对位误差之平面图。 第6A图系显示本发明第二实施例之导线结构之平 面图。 第6B图系显示本发明第二实施例之另一导线结构 之平面图。 第7A图系显示本发明第三实施例之导线结构之平 面图。 第7B图系为沿第7A图7B-7B'之剖面线之剖面图。 第7C图系为沿第7A图7C-7C'之剖面线之剖面图。
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