| 主权项 |
1.一种用于校准多通道雷达天线之装置,包含: 一雷达天线; 一天线罩,覆盖在该天线的前方表面; 一微波辐射点源,位于该天线罩内;以及 一透镜,位于该天线罩内,其形状系用于将该微波 辐射由点源转换为平面电磁波。 2.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该透镜包 含一折射透镜。 3.如申请专利范围第2项所述之装置,其中该透镜包 含一单透镜。 4.如申请专利范围第2项所述之装置,其中该透镜包 含一复合式透镜。 5.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该透镜包 含一法兰森诺透镜。 6.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该透镜包 含一绕射光栅。 7.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该透镜包 含一反射透镜。 8.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该天线罩 包含一金属帽,且该点源系置于该金属帽之后。 9.如申请专利范围第8项所述之装置,其中该透镜位 于该金属帽之后。 10.如申请专利范围第9项所述之装置,其中该金属 帽包含一引端部份及在该引端部份后方之一最大 直径,且透镜之直径等于或小于该金属帽之最大直 径。 11.如申请专利范围第1项所述之装置,其中包含一 连接至该点源之震荡器电路,以及将功率供应至该 震荡器电路之机构。 12.如申请专利范围第11项所述之装置,其中用于将 功率供应至该震荡器电路之该机构包括一连接至 该震荡器电路之光二极体以及用于将电磁辐射供 应至该光二极体之机构。 13.如申请专利范围第12项所述之装置,其中用于将 电磁辐射供应至该光二极体之机构包括一光纤缆 线。 14.如申请专利范围第13项所述之装置,其中该光纤 缆线由该天线后方延伸至该震荡器电路。 15.如申请专利范围第12项所述之装置,其中该用于 将功率供应至该震荡器电路之机构包括一雷射,设 置成用于将雷射能量透过该天线后方的空间传送 至该光二极体。 16.一种将远场校准讯号提供至微波天线之方法,该 微波天线系位于飞弹天线罩之后方,该方法包含下 列步骤: 对位于该微波天线之前的一辐射点源供给能量,以 使该点源发射微波辐射并使用一透镜将该所发射 之辐射转换为平面电磁波。 17.如申请专利范围第16项所述之方法,包括将该辐 射点源以及透镜设置于该天线罩内之步骤。 18.如申请专利范围第17项所述之方法,其中提供能 量给该点源之步骤包括透过一电缆将功率供应给 一震荡器电路之步骤。 19.如申请专利范围第17项所述之方法,其中提供能 量给该点源之步骤包括透过一光纤缆线将功率供 应给一震荡器电路之步骤。 20.如申请专利范围第17项所述之方法,其中提供能 量给点源之步骤包括透过自由空间雷射辐射将功 率供应给一震荡器电路之步骤。 21.如申请专利范围第16项所述之方法,其中使该辐 射通过一透镜之方法包括使用一折射透镜之步骤 。 22.如申请专利范围第16项所述之方法,其中使该辐 射通过一透镜之方法包括使用一反射透镜之步骤 。 23.如申请专利范围第16项所述之方法,其中使该辐 射通过一透镜之方法包括使用一法兰森诺透镜之 步骤。 24.如申请专利范围第16项所述之方法,其中使该辐 射通过一透镜之方法包括使用一复合式透镜之步 骤。 25.一种用于校准飞弹中雷达天线之装置,该雷达天 线具有圆形前端表面,该飞弹之一天线罩在其引端 部位具有一金属帽,该装置包括:一双极天线,以比 例之方式用于模拟一微波辐射点源;以及一透镜, 其形状系用以将该点源所射出之辐射转换为平面 电磁辐射,使其波前实质平行于该雷达天线之前端 表面,该双极与透镜系位于该天线罩之内及该金属 帽之后。 图式简单说明: 图1系侧视图,部份为横截面,以示意方式显示用于 本发明的飞弹的前端部份、其雷达天线、天线罩 、点源、以及一透镜;而 图2则为图1所示之雷达天线的前视图。 |
