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发明名称
雷射尺光学系统
摘要
一种用于对待测物进行测距之雷射尺光学系统,包括雷射光源(Laser Diode, LD)、发射端透镜元件、接收端透镜元件、具有反射曲面之曲面反射元件和具有光接收表面之光接收元件。其中,雷射光源发出的发射光线经过发射端透镜元件到达待测物,经待测物反射后之反射光线,经由接收端透镜元件后形成接收光线。该接收光线可部分直接入射至光接收元件之光接收表面,同时,该曲面反射元件之反射曲面能将前述接收光线中未能直接入射至光接收元件之光接收表面的剩余接收光线反射至光接收元件之光接收表面。
申请公布号
TW200641333
申请公布日期
2006.12.01
申请号
TW094117145
申请日期
2005.05.25
申请人
亚洲光学股份有限公司
发明人
陈慧卿;陈海华
分类号
G01C3/00(2006.01);G01C3/08(2006.01)
主分类号
G01C3/00(2006.01)
代理机构
代理人
刘育志
主权项
地址
台中县潭子乡台中加工出口区南二路22之3号
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