使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路

摘要

本实用新型涉及使用一般低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，使高压IC的高压输出转换成一般低压逻辑测试机所能接受的电压位准。一种使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，该接口电路包括：第一控制器，衔接待测高压IC的输出脚位，藉其内部的控制开关的开、闭而进行高压IC的输出脚位的开路短路测试、功能模式测试或是消耗电流测试；衰减电路，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，以衰减高压IC的输出至低压逻辑测试机所能接受的电压范围；以及第二控制器，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，藉其内部的控制开关的开、闭，并配合第一控制器而进行高压IC的输出是否通过衰减电路。

主权项

1、一种使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，该接口电路介于低压逻辑测试机与待测高压IC之间，其中该待测高压IC系藉由一高压电源供应器提供高压电源以进行测试，其特征在于：所述接口电路包括：一第一控制器，衔接待测高压IC的输出脚位，藉其内部的控制开关的开、闭而进行高压IC的输出脚位的开路短路测试、功能模式测试或是消耗电流测试；一衰减电路，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，以衰减高压IC的输出至低压逻辑测试机所能接受的电压范围；以及一第二控制器，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，藉其内部的控制开关的开、闭，并配合第一控制器而进行高压IC的输出是否通过衰减电路。