发明名称 |
磁阻随机存取存储器中的错误检测和修正方法及装置 |
摘要 |
本发明涉及一种方法和装置,用于减少磁阻随机存取存储器(MRAM)中的数据错误。根据所公开的方法,将将数据位和相关联的错误修正码(ECC)校验位存储到存储区域中。随后,读出数据位和ECC校验位并且校验和修正任何错误。然后基于计数开始数据刷新,随后通过存取所存储的数据位和相关联的ECC校验位,并且最终通过校验、修正数据位和ECC校验位和将其重新存储到存储区域,从而刷新存储在存储区域中的数据位和相关联的ECC校验位。 |
申请公布号 |
CN1864232A |
申请公布日期 |
2006.11.15 |
申请号 |
CN200480023245.0 |
申请日期 |
2004.06.03 |
申请人 |
因芬尼昂技术股份公司;国际商业机器公司 |
发明人 |
J·德布罗泽;H·赫尼施密德;R·勒伊施纳;G·米勒 |
分类号 |
G11C29/00(2006.01);G11C11/15(2006.01) |
主分类号 |
G11C29/00(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
吴立明;梁永 |
主权项 |
1.在磁阻随机存取存储器(MRAM)中,一种减少数据错误的方法,包括步骤:将数据位和相关联的错误修正码(ECC)校验位存储到存储区域中;读出所述数据位和所述相关联的ECC校验位;和使用所述相关联的ECC校验位来校验和修正所述数据位;和通过存取所述存储的数据位和所述相关联的ECC校验位、使用所述相关联的ECC校验位校验和修正所述数据位、并且将所述数据位和所述ECC校验位重新存储到所述存储区域,从而刷新存储在所述存储区域中的数据位和相关联的ECC校验位,其中基于计数开始所述刷新。 |
地址 |
德国慕尼黑 |