发明名称 |
Halbleiterbauelement mit einem Gatedielektrikum mit unterschiedlichen Blockiereigenschaften |
摘要 |
Durch lokales Anpassen des Blockiervermögens von Gateisolationsschichten für n-Kanaltransistoren und p-Kanaltransistoren kann die Zuverlässigkeit und die Einsetzspannungsstabilität des p-Kanaltranistors verbessert werden, wobei dennoch die Elektronenbeweglichkeit des n-Kanaltranistors auf einem hohen Niveau gehalten werden kann. Dies kann durch Einbauen eines unterschiedlichen Anteils eines dielektrischen Dotierstoffes in entsprechende Gateisolationsschichtbereiche bewerkstelligt werden.
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申请公布号 |
DE102005020058(A1) |
申请公布日期 |
2006.11.09 |
申请号 |
DE200510020058 |
申请日期 |
2005.04.29 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES INC. |
发明人 |
WIECZOREK, KARSTEN;RAAB, MICHAEL;ROMERO, KARLA |
分类号 |
H01L21/336;H01L21/8236 |
主分类号 |
H01L21/336 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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