发明名称 Halbleiterbauelement mit einem Gatedielektrikum mit unterschiedlichen Blockiereigenschaften
摘要 Durch lokales Anpassen des Blockiervermögens von Gateisolationsschichten für n-Kanaltransistoren und p-Kanaltransistoren kann die Zuverlässigkeit und die Einsetzspannungsstabilität des p-Kanaltranistors verbessert werden, wobei dennoch die Elektronenbeweglichkeit des n-Kanaltranistors auf einem hohen Niveau gehalten werden kann. Dies kann durch Einbauen eines unterschiedlichen Anteils eines dielektrischen Dotierstoffes in entsprechende Gateisolationsschichtbereiche bewerkstelligt werden.
申请公布号 DE102005020058(A1) 申请公布日期 2006.11.09
申请号 DE200510020058 申请日期 2005.04.29
申请人 ADVANCED MICRO DEVICES INC. 发明人 WIECZOREK, KARSTEN;RAAB, MICHAEL;ROMERO, KARLA
分类号 H01L21/336;H01L21/8236 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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