| 发明名称 | 用于获得参数的系统,站点,装置和方法 | ||
| 摘要 | 在具有站点(101)和无源装置(102)的询问系统(100)中，站点(101)通过传输一个电磁脉冲(105)向无源装置(102)询问一个参数(103)。无源装置(102)具有一个空腔(109)，其影响无源装置(102)对电磁脉冲(105)的超宽频反射波。无源装置(102)的参数(103)影响空腔(109)的物理特性(110)。站点(101)接收并分析该反射波来获得参数(103)。 | ||
| 申请公布号 | CN1860491A | 申请公布日期 | 2006.11.08 |
| 申请号 | CN200480028096.7 | 申请日期 | 2004.09.17 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | S·B·科拉克;M·奥沃科克 |
| 分类号 | G06K19/067(2006.01);G08B13/24(2006.01) | 主分类号 | G06K19/067(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 李亚非;王忠忠 |
| 主权项 | 1.一种询问系统(100)包括：-一个站点(101)，用于通过询问无源装置(102)获得无源装置(102)的参数(103)，该站点(101)包括：-发送装置(104)，用于发送电磁脉冲(105)；-接收装置(106)，用于接收来自无源装置(102)的电磁脉冲(105)的调制超宽带反射(107)；-解调装置(108)，用于解调反射并获得参数(103)，该解调装置(108)耦合到接收装置(106)，并且-无源装置(102)用于将调制超宽带反射(107)发送到站点(101)，无源装置(102)包括一个空腔(109)，用于根据参数(103)调制反射波(107)，该空腔(109)具有物理特性(110)，该物理特性(110)取决于参数(103)。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||