发明名称 | 用于双层记录介质的重现光束功率控制 | ||
摘要 | 本发明涉及一种用于读取磁光记录介质的方法和设备,所述介质包括第一存储层和第二存储层以及读出层,其中,通过利用辐射功率加热并借助于外部磁场将标记区域从所述第一或第二存储层复制到所述读出层,在所述读出层中产生导致读出脉冲产生的扩大磁畴。将所述辐射功率设定为用于从所述第一存储层进行读取的第一值和用于从所述第二存储层进行读取的第二值。在读取操作中确定指示所述第一和第二存储层之间的串扰的参数,之后,根据所述确定参数控制所述辐射功率。因此,可以通过保持读出温度靠近没有读取的另一存储层的补偿温度降低第一和第二存储层的串扰。本发明还涉及一种用在所述方法和设备中的记录介质。 | ||
申请公布号 | CN1849656A | 申请公布日期 | 2006.10.18 |
申请号 | CN200480025869.6 | 申请日期 | 2004.08.26 |
申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | C·A·弗舒伦 |
分类号 | G11B11/105(2006.01) | 主分类号 | G11B11/105(2006.01) |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 程天正;陈景峻 |
主权项 | 1、一种用于从磁光记录介质(10)中进行读取的读取设备,所述介质包括第一存储层(S1)和第二存储层(S2)以及读出层(RO),其中,通过利用辐射功率加热并借助于外部磁场将标记区域从所述第一或第二存储层复制到所述读出层,而在所述读出层(RO)中产生导致读出脉冲产生的扩大磁畴,所述设备包括:a)设定装置(290),用于将所述辐射功率设定为用于从所述第一存储层进行读取的第一值和用于从所述第二存储层进行读取的第二值;b)确定装置(290),用于确定指示所述第一和第二存储层之间的串扰的参数;和c)控制装置(290),用于根据所述确定参数控制所述辐射功率。 | ||
地址 | 荷兰艾恩德霍芬 |