发明名称 Abtasteinheit für eine Positionsmesseinrichtung zum optischen Abtasten einer Massverkörperung
摘要 Die Erfindung bezieht sich auf eine Abtasteinheit für eine Positionsmesseinrichtung zum optischen Abtasten einer Maßverkörperung mit einer Lichtquelle zum Aussenden von Licht in Richtung auf eine Maßverkörperung, einem Detektor zum Empfang des von der Maßverkörperung modifizierten Lichtes und einer vor dem Detektor angeordneten, eine Mehrzahl optischer Linsen aufweisenden Linsenanordnung zur Erzeugung einer definierten Abbildung eines abgetasteten Abtastbereichs auf dem Detektor. Dabei ist vorgesehen, dass die Linsenanordnung den Abtastbereich vollständig, aber flächenmäßig verkleinert in einem Bildfeld auf den Detektor abbildet (Figur 3).
申请公布号 DE102005015743(A1) 申请公布日期 2006.10.12
申请号 DE200510015743 申请日期 2005.04.06
申请人 DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH 发明人 BENNER, ULRICH
分类号 G01B11/00;G01B11/26;G01D5/36 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
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