| 发明名称 |
Data generator for generating test data for word-oriented semiconductor memories |
| 摘要 |
A data generator for generating test data for a word-oriented semiconductor memory is integrated on a semiconductor chip of the semiconductor memory. The data generator has a shift register.
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| 申请公布号 |
US7120841(B2) |
申请公布日期 |
2006.10.10 |
| 申请号 |
US20020200633 |
申请日期 |
2002.07.22 |
| 申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
OHLHOFF CARSTEN |
| 分类号 |
G11C29/00;G01R31/28;G06F11/00;G11C29/36 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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