发明名称 SELF REFRESH PERIOD SELECTING CIRCUIT TO TEST SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS METHOD
摘要
申请公布号 KR20060104867(A) 申请公布日期 2006.10.09
申请号 KR20050027352 申请日期 2005.03.31
申请人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC. 发明人 LEE, KYONG HA
分类号 G11C11/406 主分类号 G11C11/406
代理机构 代理人
主权项
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