发明名称 改良式带宽估测技术
摘要 所揭示系一种可测量一雷射所发出而输入至其带宽计之光波的光谱之带宽的带宽计量方法和装置,其可包括:一光学带宽监视器,其可提供一可表示一指示其雷射所发出之光波的带宽之第一参数的第一输出,和一可表示一指示其雷射所发出之光波的带宽之第二参数的第二输出;和一实际带宽计算装置,其可利用其第一输出和第二输出,作为一采用一些专属其光学带宽监视器之预定校正变数的多变数方程式的一部份,来计算一实际之带宽参数。此实际之带宽参数,可为其雷射所发出之光波的光谱之全宽度内的某一百分比最大值下的光谱全宽度("FWXM"),或为一在其光谱上面之两点间的宽度("EX"),其系包围上述雷射所发出之光波的光谱之全频谱的某一百分比之能量。其带宽监视器,可由一标准具所构成,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量的两点间之宽度("EX'")中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二 FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"及X'≠X'"。其预先计算之校正变数,可导自其实际带宽参数值利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。其实际带宽参数之值,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+M,其中, w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示值,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示值。此种装置和方法,可在一雷射平版印刷光源中,及/或在一积体电路平版印刷工具中,加以具现。
申请公布号 TWI263412 申请公布日期 2006.10.01
申请号 TW093116896 申请日期 2004.06.11
申请人 希玛股份有限公司 发明人 瑞飞克
分类号 H04B10/00 主分类号 H04B10/00
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 1.一种带宽计,其用以测量一雷射所发出而输入至该带宽计之光波光谱之带宽,该带宽计包括:一光学带宽监视器,其可提供一可表示一指示其雷射所发出之光波的带宽之第一参数的第一输出、和一可表示一指示其雷射所发出之光波的带宽之第二参数的第二输出;和一实际带宽计算装置,其可利用其第一输出和第二输出,作为一采用一些专属其光学带宽监视器之预定校正变数的多变数方程式的一部份,来计算一实际之带宽参数。2.如申请专利范围第1项之带宽计,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系其雷射所发出之光波的光谱之全宽度内的某一百分比最大値下的光谱全宽度("FWXM")。3.如申请专利范围第1项之带宽计,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系一在其光谱上面之两点间的宽度("EX"),其系界定其光谱围住上述雷射所发出之光波的光谱之全频谱的某一百分比能量之内容。4.如申请专利范围第1项之带宽计,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。5.如申请专利范围第2项之带宽计,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。6.如申请专利范围第3项之带宽计,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。7.如申请专利范围第4项之带宽计,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。8.如申请专利范围第5项之带宽计,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。9.如申请专利范围第6项之带宽计,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。10.如申请专利范围第7项之带宽计,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。11.如申请专利范围第8项之带宽计,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。12.如申请专利范围第9项之带宽计,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。13.一种带宽计,其可测量一雷射所发出而输入至该带宽计之光波光谱之带宽,该带宽计包括:一光学带宽监视器,其可提供一可表示其光学带宽监视器所测得之第一光谱宽度测量値的第一输出、和一可表示其光学带宽监视器所测得之第二光谱宽度测量値的第二输出;和一实际带宽计算装置,其可利用其第一输出和第二输出,作为一采用一些专属其光学带宽监视器之预定校正变数的多变数方程式的一部份,来计算一实际之带宽参数。14.如申请专利范围第13项之带宽计,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系其雷射所发出之光波的光谱之全宽度内的某一百分比最大値下的光谱全宽度("FWXM")。15.如申请专利范围第13项之带宽计,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系一在其光谱上面围住上述雷射所发出之光波的光谱之全频谱的某一百分比能量之两点间的宽度("EX")。16.如申请专利范围第13项之带宽计,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。17.如申请专利范围第14项之带宽计,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。18.如申请专利范围第15项之带宽计,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。19.如申请专利范围第16项之带宽计,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。20.如申请专利范围第17项之带宽计,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。21.如申请专利范围第18项之带宽计,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。22.如申请专利范围第19项之带宽计,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。23.如申请专利范围第20项之带宽计,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。24.如申请专利范围第21项之带宽计,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。25.一种照相平版印刷光源装置,其系包括:一带宽计,其可测量一雷射所发射出而输入至该带宽计之光波光谱之带宽,该带宽计包括:一光学带宽监视器,其可提供一可表示一指示其雷射所发出之光波的带宽之第一参数的第一输出,和一可表示一指示其雷射所发出之光波的带宽之第二参数的第二输出;和一实际带宽计算装置,其可利用其第一输出和第二输出,作为一采用一些专属其光学带宽监视器之预定校正变数的多变数方程式的一部份,来计算一实际之带宽参数。26.如申请专利范围第25项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系其雷射所发出之光波的光谱之全宽度内的某一百分比最大値下的光谱全宽度("FWXM")。27.如申请专利范围第25项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系一在其光谱上面围住上述雷射所发出之光波的光谱之全频谱的某一百分比能量之两点间的宽度("EX")。28.如申请专利范围第25项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。29.如申请专利范围第26项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。30.如申请专利范围第27项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。31.如申请专利范围第28项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。32.如申请专利范围第29项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。33.如申请专利范围第30项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。34.如申请专利范围第31项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。35.如申请专利范围第32项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。36.如申请专利范围第33项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。37.一种照相平版印刷光源装置,其系包括:一带宽计,其可测量一雷射所发射出而输入至该带宽计之光波光谱之带宽,该带宽计包括:一光学带宽监视器,其可提供一可表示其光学带宽监视器所测得之第一光谱宽度测量値的第一输出、和一可表示其光学带宽监视器所测得之第二光谱宽度测量値的第二输出;和一实际带宽计算装置,其可利用其第一输出和第二输出,作为一采用一些专属其光学带宽监视器之预定校正变数的多变数方程式的一部份,来计算一实际之带宽参数。38.如申请专利范围第37项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系其雷射所发出之光波的光谱之全宽度内的某一百分比最大値下的光谱全宽度("FWXM")。39.如申请专利范围第37项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系一在其光谱上面围住上述雷射所发出之光波的光谱之全频谱的某一百分比能量之两点间的宽度("EX")。40.如申请专利范围第37项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。41.如申请专利范围第38项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。42.如申请专利范围第39项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。43.如申请专利范围第40项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。44.如申请专利范围第41项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。45.如申请专利范围第42项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。46.如申请专利范围第43项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。47.如申请专利范围第44项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。48.如申请专利范围第45项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。49.一种照相平版印刷工具,其系包括:一雷射光源,其系包括:一带宽计,其可测量一雷射所发出而输入至该带宽计之光波光谱之带宽,其系包括:一光学带宽监视器,其可提供一可表示其光学带宽监视器所测得之第一光谱宽度测量値的第一输出,和一可表示其光学带宽监视器所测得之第二光谱宽度测量値的第二输出;和一实际带宽计算装置,其可利用其第一输出和第二输出,作为一采用一些专属其光学带宽监视器之预定校正变数的多变数方程式的一部份,来计算一实际之带宽参数。50.如申请专利范围第49项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系其雷射所发出之光波的光谱之全宽度内的某一百分比最大値下的光谱全宽度("FWXM")。51.如申请专利范围第49项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系一在其光谱上面围住上述雷射所发出之光波的光谱之全频谱的某一百分比能量之两点间的宽度("EX")。52.如申请专利范围第49项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。53.如申请专利范围第50项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。54.如申请专利范围第51项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。55.如申请专利范围第52项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。56.如申请专利范围第53项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。57.如申请专利范围第54项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。58.如申请专利范围第55项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。59.如申请专利范围第56项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。60.如申请专利范围第57项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。61.一种带宽计,其可测量一雷射所发出而输入至该带宽计之光波光谱之带宽,该带宽计包括:一光学带宽监视装置,其用以提供一可表示代表该雷射所发射出之光波带宽之第一参数的第一输出、和一可表示代表该雷射所发射出之光波带宽之第二参数的第二输出;和一实际带宽计算装置,其可利用其第一输出和第二输出,作为一采用一些专属其光学带宽监视装置之预定校正变数的多变数方程式的一部份,来计算一实际之带宽参数。62.如申请专利范围第61项之带宽计,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系其雷射所发出之光波的光谱之全宽度内的某一百分比最大値下的光谱全宽度("FWXM")。63.如申请专利范围第61项之带宽计,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系一在其光谱上面围住上述雷射所发出之光波的光谱之全频谱的某一百分比能量之两点间的宽度("EX")。64.如申请专利范围第61项之带宽计,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。65.如申请专利范围第74项之带宽计,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。66.如申请专利范围第65项之带宽计,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。67.如申请专利范围第76项之带宽计,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。68.如申请专利范围第65项之带宽计,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。69.如申请专利范围第66项之带宽计,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。70.如申请专利范围第67项之带宽计,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。71.如申请专利范围第68项之带宽计,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。72.如申请专利范围第69项之带宽计,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。73.一种带宽计,其用以测量一雷射所发出而输入至该带宽计之光波光谱之带宽,该带宽计包括:一光学带宽监视器装置,其可提供一可表示其光学带宽监视装置所测得之第一光谱宽度测量値的第一输出、和一可表示其光学带宽监视装置所测得之第二光谱宽度测量値的第二输出;和一实际带宽计算装置,其可利用其第一输出和第二输出,作为一采用一些专属其光学带宽监视器之预定校正变数的多变数方程式的一部份,来计算一实际之带宽参数。74.如申请专利范围第73项之带宽计,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系其雷射所发出之光波的光谱之全宽度内的某一百分比最大値下的光谱全宽度("FWXM")。75.如申请专利范围第73项之带宽计,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系一在其光谱上面围住上述雷射所发出之光波的光谱之全频谱的某一百分比能量之两点间的宽度("EX")。76.如申请专利范围第73项之带宽计,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。77.如申请专利范围第74项之带宽计,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。78.如申请专利范围第75项之带宽计,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。79.如申请专利范围第76项之带宽计,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。80.如申请专利范围第77项之带宽计,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。81.如申请专利范围第78项之带宽计,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。82.如申请专利范围第79项之带宽计,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。83.如申请专利范围第80项之带宽计,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。84.如申请专利范围第81项之带宽计,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。85.一种照相平版印刷光源装置,其系包括:一带宽计装置,其用以测量雷射所发出而输入至该带宽计装置之光波光谱之带宽,该带宽计装置系包括:一光学带宽监视装置,其可提供一可表示指出该雷射所发出光波带宽之一第一参数的第一输出,和一可表示指出该雷射所发出光波带宽之一第二参数的第二输出;和一实际带宽计算装置,其可利用该第一输出和第二输出,作为一采用一些专属该光学带宽监视装置之预定校准变数的多变数方程式的一部份,来计算一实际带宽参数。86.如申请专利范围第85项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系其雷射所发出之光波的光谱之全宽度内的某一百分比最大値下的光谱全宽度("FWXM")。87.如申请专利范围第85项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系一在其光谱上面围住上述雷射所发出之光波的光谱之全频谱的某一百分比能量之两点间的宽度("EX")。88.如申请专利范围第85项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其带宽监视装置系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。89.如申请专利范围第86项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其带宽监视装置系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。90.如申请专利范围第87项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其带宽监视装置系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。91.如申请专利范围第88项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。92.如申请专利范围第89项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。93.如申请专利范围第90项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。94.如申请专利范围第91项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。95.如申请专利范围第92项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。96.如申请专利范围第93项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。97.一种照相平版印刷光源装置,其系包括:一带宽计装置,其用以测量从一雷射发出而输入至该带宽计装置之光波光谱之带宽,该带宽计装置包括:一光学带宽监视装置,其用以提供一可表示其光学带宽监视装置所测得之第一光谱宽度测量値的第一输出、和一用以表示其光学带宽监视装置所测得之第二光谱宽度测量値的第二输出;和一实际带宽计算装置,其可利用其第一输出和第二输出,作为一采用一些专属其光学带宽监视装置之预定校正变数的多变数方程式的一部份,来计算一实际之带宽参数。98.如申请专利范围第97项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系其雷射所发出之光波的光谱之全宽度内的某一百分比最大値下的光谱全宽度("FWXM")。99.如申请专利范围第97项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系一在其光谱上面围住上述雷射所发出之光波的光谱之全频谱的某一百分比能量之两点间的宽度("EX")。100.如申请专利范围第97项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其带宽监视装置系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。101.如申请专利范围第98项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其带宽监视装置系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。102.如申请专利范围第99项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其带宽监视装置系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。103.如申请专利范围第100项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。104.如申请专利范围第101项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。105.如申请专利范围第102项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。106.如申请专利范围第103项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。107.如申请专利范围第104项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。108.如申请专利范围第105项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。109.一种照相平版印刷工具,其系包括:一雷射光源,其系包括:一带宽计装置,其用以测量一雷射发出而输入至该带宽计装置之光波的光谱之带宽,该带宽计装置包括:一光学带宽监视装置,其可提供一可表示其光学带宽监视装置所测得之第一光谱宽度测量値的第一输出,和一可表示其光学带宽监视装置所测得之第二光谱宽度测量値的第二输出;和一实际带宽计算装置,其可利用其第一输出和第二输出,作为一采用一些专属其光学带宽监视装置之预定校正变数的多变数线性方程式的一部份,来计算一实际之带宽参数。110.如申请专利范围第109项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系其雷射所发出之光波的光谱之全宽度内的某一百分比最大値下的光谱全宽度("FWXM")。111.如申请专利范围第109项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系一在其光谱上面围住上述雷射所发出之光波的光谱之全频谱的某一百分比能量之两点间的宽度("EX")。112.如申请专利范围第109项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其带宽监视装置系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。113.如申请专利范围第110项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其带宽监视装置系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。114.如申请专利范围第111项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其带宽监视装置系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。115.如申请专利范围第112项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。116.如申请专利范围第113项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。117.如申请专利范围第114项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。118.如申请专利范围第115项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。119.如申请专利范围第116项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。120.如申请专利范围第117项之照相平版印刷工具,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。121.一种照相平版印刷光源装置,其系包括:一带宽计装置,其用以测量从一雷射发出而输入至该带宽计装置之光波光谱之带宽,该带宽计装置包括:一光学带宽监视装置,其可提供一可表示其光学带宽监视装置所测得之第一光谱宽度测量値的第一输出、和一可表示其光学带宽监视装置所测得之第二光谱宽度测量値的第二输出;和一实际带宽计算装置,其可利用其第一输出和第二输出,作为一采用一些专属其光学带宽监视装置之预定校正变数的多变数线性方程式的一部份,来计算一实际之带宽参数。122.如申请专利范围第121项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系其雷射所发出之光波的光谱之全宽度内的某一百分比最大値下的光谱全宽度("FWXM")。123.如申请专利范围第121项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系一在其光谱上面围住上述雷射所发出之光波的光谱之全频谱的某一百分比能量之两点间的宽度("EX")。124.如申请专利范围第121项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其带宽监视装置系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。125.如申请专利范围第122项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其带宽监视装置系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。126.如申请专利范围第123项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其带宽监视装置系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。127.如申请专利范围第124项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。128.如申请专利范围第125项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。129.如申请专利范围第126项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。130.如申请专利范围第127项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。131.如申请专利范围第128项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。132.如申请专利范围第129项之照相平版印刷光源装置,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。133.一种光波光谱带宽测量方法,用以测量雷射所发出而输入至带宽计之光波光谱之带宽,该方法包括:利用一光学带宽监视器,来提供一可表示代表该雷射所发射出之光之带宽之第一参数的第一输出、和代表该雷射所发射出之光之带宽之第二参数的一第二输出;和在一实际带宽计算装置中,利用其第一输出和第二输出,作为一采用一些专属其光学带宽监视器之预定校正变数的多变数方程式的一部份,来计算一实际之带宽参数。134.一种带宽计,其用以测量从一窄带光源发出而输入至该带宽计之光波光谱之带宽,该带宽计包括:一光学带宽监视器,其可提供一可表示其光学带宽监视器所测得之第一光谱宽度测量値的第一输出、和一可表示其光学带宽监视器所测得之第二光谱宽度测量値的第二输出;和在一实际带宽计算装置中,利用其第一输出和第二输出,作为一采用一些专属其光学带宽监视器之预定校正变数的多变数方程式的一部份,来计算一实际之带宽参数。135.如申请专利范围第134项之带宽计,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系其雷射所发出之光波的光谱之全宽度内的某一百分比最大値下的光谱全宽度("FWXM")。136.如申请专利范围第134项之带宽计,其系进一步包括:其实际之带宽参数,系一在其光谱上面围住上述雷射所发出之光波的光谱之全频谱的某一百分比能量之两点间的宽度("EX")。137.如申请专利范围第134项之带宽计,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。138.如申请专利范围第135项之带宽计,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。139.如申请专利范围第136之带宽计,其系进一步包括:其带宽监视器系一标准具,以及其第一输出系表示此标准具之光学输出的条纹在FWXM下之宽度或其光谱上面包围上述雷射所发出之光波的全频谱之某一百分比能量("EX'")的两点间之宽度中的至少一个,以及其第二输出系表示一第二FWX"M或EX'"中的至少一个,其中X≠X"以及X'≠X'"。140.如申请专利范围第137项之带宽计,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。141.如申请专利范围第138项之带宽计,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。142.如申请专利范围第139项之带宽计,其系进一步包括:其预先计算之校正变数,系导自其实际带宽参数値利用一与一校正光谱有关之第一和第二输出的发生相关联之可靠标准的测量。143.如申请专利范围第140项之带宽计,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。144.如申请专利范围第141项之带宽计,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。145.如申请专利范围第142项之带宽计,其系进一步包括:其实际带宽参数之値,系计算自方程式:估测之实际BW参数=K*w1+L*w2+ M,其中,w1=FWXM或EX'之第一测得输出表示値,以及w2为FWX"M或EX'"之第二测得输出表示値。146.一种带宽计,其系包括:一光学色散性仪器,其可使其由光源之输出所构成的能量,依据其光源之能量的波长分布,弥散进一空间或时间域内;一侦测器,其可分别记录其能量之波长分布的空间或时间上之变动,以及可基于此记录之空间或时间上之变动,来提供一输出信号;一第一计算装置,其可分别基于其侦测器所记录之能量的波长分布之空间或时间上的变动,来计算其分别在空间或时间域内之能量的波长分布之宽度,以及可依据其色散性仪器之光学性质,分别将其空间或时间上之分布,转换进其波长域内;和一第二计算装置,其可利用其第一计算装置所计算之波长域内的能量之波长分布中的至少一宽度,其系藉由应用至少一宽度,作为一具有一些专属其光源、色散性仪器、侦测器、和至少一用作引数之宽度的预定校正变数之多变数方程式的引数。147.如申请专利范围第146项之带宽计,其系进一步包括:其第一计算装置和第二计算装置,系相同之计算装置。148.如申请专利范围第146项之带宽计,其系进一步包括:其至少之一宽度,为至少两选自其光源所发出之光波的频谱之全宽度内的某一百分比最大値下之光谱全宽度("FWXM")和(FWX'M")和其界定其光谱围住上述光源所发出之光波的频谱之全光谱的某一百分比能量之内容的两点间之宽度("EX"")和("EX'"")的群组之宽度,其中X≠X"以及X"≠X'"。149.如申请专利范围第147项之带宽计,其系进一步包括:其至少之一宽度,为至少两选自其光源所发出之光波的频谱之全宽度内的某一百分比最大値下之光谱全宽度("FWXM")和(FWX'M")和其界定其光谱围住上述光源所发出之光波的频谱之全光谱的某一百分比能量之内容的两点间之宽度("EX"")和("EX'"")的群组之宽度,其中X≠X"以及X"≠X'"。150.如申请专利范围第146项之带宽计,其系进一步包括:其中之多变数方程式,在评估上可计算一代表其选自该群组FWX*M、EX**之光源的能量输出之带宽分布的实际带宽参数。151.如申请专利范围第147项之带宽计,其系进一步包括:其中之多变数方程式,在评估上可计算一代表其选自该群组FWX*M、EX**之光源所输出的能量之带宽分布的实际带宽参数。152.如申请专利范围第148项之带宽计,其系进一步包括:其中之多变数方程式,在评估上可计算一代表其选自该群组FWX*M、EX**之光源所输出的能量之带宽分布的实际带宽参数,其中之X*可能等于X或X',以及X**亦可能等于X"或X'"。153.如申请专利范围第147项之带宽计,其系进一步包括:其中之多变数方程式,在评估上可计算一代表其选自该群组FWX*M、EX**之光源所输出的能量之带宽分布的实际带宽参数,其中之X*可能等于X或X',以及X**亦可能等于X"或X'"。图式简单说明:第1A-D图系显示其带宽光谱形状因雷射运作之某些参数的变动所致之各种响应;第2图系显示一双通光栅分光计之实施例;第3图系显示一利用一依据本发明之一实施例的单平面标准具之角色散的分光计;第4图系显示Voigt光源与Lorentzian(劳伦斯型)仪器褶积式(convolved)光谱FWHM带宽相对于其以劳伦斯型FWHM通带为单位之形状参数的恒値线;第5图系显示~5000个实验光源频谱有关之模拟标准具分光计FWHM条纹恒値线,此所显示之两组,系例示其标准具FWHM通带之不同选择的效应;第6图系显示其近带宽翼部之能量泄漏如何依据一附有一以一些全具有同一0.11 pm之FWHM带宽的真实光源频谱褶积0.12 pm FWHM通带之劳伦斯型分光计的模拟而使一标准具条纹之FWHM加宽;第7A和B图系分别显示两测得具有同一0.11 pm FWHM和不同E95带宽(I)之雷射光谱和彼等与一0.12 pm FWHM之劳伦斯型仪表函数的褶积,而指明此两光谱在各种临界値下之褶积条纹宽度系不相同;彼等相差数量系显示为(II)中之,此差异举例而言,如此申请案中所说明,系其因光谱形状之改变所致固定偏移和点斜FWHM模型的系统性误差源;第8A-C图系显示一依据本发明之一实施例,举例而言,利用一与有关第16图所用相同而以-5000个取样光谱为例之全域在加增的强度临界値X%=25%、50%、75%下的条纹宽度测量之点斜FWHM估测器模型的改良;第9图系显示一些可例示E95之条纹点斜模型估测对雷射运作条件中的改变所引发之光谱形状变动的系统性敏感度之实验结果,举例而言,其系包括某一定3130个测得光谱,灰色方块系使用条纹FW35%作为输入,以及黑色圆体系使用条纹FW75%,而具有二或三个不同之斜率和三个明显对应于资料之不同光谱形状子集的不同截点;而第10图则系显示一些使用两强度临界値(FW35%+75%)模型之带宽方程式的E95之预测,其系显示3250个光谱出自4个分开之实验,彼等系结合:组群I,延迟之MOPA时序下的常态之F2浓度;组群II,常态时序下之常态的F2浓度;组群III,浓缩之F2,亦为缩短之MOPA时序下的常态F2,而具有离第9图之点斜模型相较的更佳控制之等値的方差,其插图系显示光谱全域有关之追踪误差的分布,其系具有一12.1 fm之标准差,其大约有4fm可以其光源频谱之有限信号杂讯比("SNR"),来加以解释。
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